功率半導體器件的設計確保:在開(kāi)啟(ON)狀態(tài)下,它能夠為負載提供大量功率,而自身卻消耗最小的電源功率(高效率);在關(guān)閉(OFF)狀態(tài)下,它向負載提供的功率幾乎為零,同時(shí)自身也消耗最小的電源功率(高效率)(待機電流非常小)。因此,功率半導體器件的特性分析或直流參數測試可以分為兩種:開(kāi)啟狀態(tài)特性分析和關(guān)閉狀態(tài)特性分析。本應用筆記對這兩種測試應用進(jìn)行說(shuō)明,并給出利用多種吉時(shí)利數字源表源測量單元(SMU)儀器構建測試系統的實(shí)例。 下載: ![]() |
謝謝!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!! |