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功率半導體器件的設計確保：在開(kāi)啟（ON）狀態(tài)下，它能夠為負載提供大量功率，而自身卻消耗最小的電源功率（高效率）；在關(guān)閉（OFF）狀態(tài)下，它向負載提供的功率幾乎為零，同時(shí)自身也消耗最小的電源功率（高效率）(待機電流非常小)。因此，功率半導體器件的特性分析或直流參數測試可以分為兩種：開(kāi)啟狀態(tài)特性分析和關(guān)閉狀態(tài)特性分析。本應用筆記對這兩種測試應用進(jìn)行說(shuō)明，并給出利用多種吉時(shí)利數字源表源測量單元(SMU)儀器構建測試系統的實(shí)例。 下載： 
Multi-SMU Systems AppNote_CN.pdf
(10.86 MB)
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