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分立電阻器在最后的封裝狀態(tài)要進(jìn)行單點(diǎn)通過(guò)/失敗測試，這對確保產(chǎn)品符合制造商性能指標至關(guān)重要，而且可以在出貨前識別劣質(zhì)電阻器以及輕微不良的電阻器。通常要對電阻器進(jìn)行兩項測試：電阻器電壓系數測試以及電阻器公差帶測試。為了確保產(chǎn)品質(zhì)量，這些測試必須可靠，但為了保持高生產(chǎn)量，測試必須迅速進(jìn)行。在許多分立電阻器生產(chǎn)測試中，還要使用分立儀器，如電源和數字萬(wàn)用表等。 如果每天制造數百萬(wàn)只電阻器，那么測試系統的吞吐量就至關(guān)重要。隨著(zhù)測試中計算機控制儀器數量的增加，整個(gè)測試過(guò)程也變得較慢。如果必須進(jìn)行數學(xué)計算，如計算電壓系數，由于計算機計算需要時(shí)間以及必然發(fā)生等待控制，這可能進(jìn)一步降低系統吞吐量。 這個(gè)應用筆記詳細說(shuō)明如何利用2400型數字源表組裝、配置和操作分立電阻器生產(chǎn)測試系統，該數字源表可以作為電壓/電流源，并測量電流和電壓。這個(gè)方法具有較簡(jiǎn)單的系統配置和較高的測試吞吐量。利用分立數字萬(wàn)用表和電壓/電流源配置的測試系統，要比將這些功能集成在單一設備內的系統占用更多的機架空間。除了設備成本較高，3個(gè)分立儀器還意味著(zhù)要學(xué)習3套命令，從而使系統編程和維護更為復雜。使用多個(gè)儀器和信號源還將使觸發(fā)器定時(shí)更加復雜，并增加觸發(fā)的不確定性。此外，分立儀器運行的協(xié)同工作也將延長(cháng)測量周期，這也會(huì )降低測試吞吐量。 這個(gè)應用筆記對電阻器電壓系數測試和公差帶測試進(jìn)行了說(shuō)明，對系統配置的通用算法以及IEEE總線(xiàn)操作進(jìn)行了介紹，并討論了典型的誤差來(lái)源。此外，還列出系統設備需求，并給出示例程序。該應用筆記假設系統采用連續進(jìn)給操作，其中測試夾具每次只夾取一個(gè)電阻器。不過(guò)，為了適合多器件的“批量”操作，引入開(kāi)關(guān)系統后，可以很容易對所介紹的技術(shù)進(jìn)行改造實(shí)現高速生產(chǎn)測試應用。 了解更多吉時(shí)利2400系列數字源表，請戳http://www.keithley.com.cn/products/semiconductor/sourcemeasureunits/series2400sourcemeter 想與吉時(shí)利測試測量專(zhuān)家互動(dòng)？想有更多學(xué)習資源？可登錄吉時(shí)利官方網(wǎng)站http://www.keithley.com.cn/ |
