直流測試中,激光二極管或VCSEL模組的關(guān)鍵技術(shù)參數

發(fā)布時(shí)間:2012-6-29 15:55    發(fā)布者:majake2011
關(guān)鍵詞: 直流測試 , 激光二極管 , VCSEL
在直流測試中,激光二極管VCSEL模組的關(guān)鍵技術(shù)參數如下:
•激光二極管正向壓降
拐點(diǎn)測試/線(xiàn)性度測試(dL/dI)
閾值電流
•背光探測二極管反向偏置電壓
•背光探測二極管電流
•背光探測二極管暗電流
•光輸出功率

通過(guò)LIV測試掃描,可以完成多數最常見(jiàn)的直流特性測量。這種快速且廉價(jià)的直流測試可在測試過(guò)程的早期提早確定失效的組件,隨后昂貴的非直流域測試系統可以更經(jīng)濟地對剩下的高產(chǎn)率元器件進(jìn)行測試。圖1顯示了LIV測試掃描的基本儀器配置。

1
LIV
測量框圖

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