藍菲光學(xué)新型 illumia 光源測量系統可以滿(mǎn)足各種應用及預算的需求

發(fā)布時(shí)間:2012-7-19 16:21    發(fā)布者:eechina
關(guān)鍵詞: illumia , LED , 測量 , 光源
藍菲光學(xué)(Labsphere)近日推出 illumia 和 illumia pro 系列 LED 和光源測量系統。這款新系統在測量 LED、LED 陣列和固態(tài)及傳統照明產(chǎn)品的熱學(xué)、光學(xué)和電學(xué)特性上有很大的靈活性。



illumia 系統有四種光譜儀,積分球尺寸從25厘米至195厘米可供選擇,較高的可定制化程度能夠滿(mǎn)足各種預算或應用需求。光譜儀較寬的動(dòng)態(tài)范圍意味著(zhù)單一的積分球系統即可測量寬范圍的照明亮度。

illumia 系統可以測量總光譜通量、光通量、輻射通量、色度、色溫和顯色性、峰值波長(cháng)、主波長(cháng)、電流、電壓和光效,再加上 TEC 溫度控制和監測部件,illumia pro 可以測量 LED 所有的熱學(xué)、光學(xué)和電學(xué)特性。

藍菲光學(xué)的 MtrX-SPEC 軟件能夠在幾毫秒之內得到符合全球標準和測量幾何要求的光譜結果。藍菲光學(xué)的符合 NIST 溯源、獲得 NVLAP 認證的校準標準燈,允許制造商為迎合全球市場(chǎng)作準備而在公司內部進(jìn)行熱學(xué)、光學(xué)、電學(xué)特性測試,加快從設計到投放市場(chǎng)的產(chǎn)品開(kāi)發(fā)速度。

所有系統都使用藍菲光學(xué) Spectraflect® 高反射率漫反射涂層,提供近乎完美的漫反射以實(shí)現最佳的測量精度。附加的配件可以集成進(jìn) illmia 系統來(lái)滿(mǎn)足客戶(hù)所需特定的應用結果。
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