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全面的接收器和發(fā)射器解決方案為集成電路、主機和板卡設計人員提供一站式PCIe 3.0測試與調試 泰克公司推出業(yè)內針對PCI Express 3.0標準的、最靈活和最完整的自動(dòng)化發(fā)射器 (Tx) 和接收器 (Rx) 一致性與調試測試解決方案。通過(guò)對BERTScope誤碼率分析儀系列的新產(chǎn)品增強以及PCI Express測試軟件，泰克現在可以為集成電路、主機和板卡設計人員提供一站式PCI Express 3.0測試解決方案。 PCI Express的每一代推出，都使得其變得更快和更復雜。在8 Gb/s的速度，PCI Express 3.0測試涉及復雜的Rx壓力條件作用 (stress conditioning)，BER一致性測試以及大量Tx一致性測試。另外，設計失敗時(shí)的調試還需要完全測試支持。憑借最新更新，泰克現在提供對PCI Express 3.0的物理層測試自動(dòng)化與調試的業(yè)內最全面支持。 “PCIe3測試的許多方面——如鏈路訓練和Tx均衡檢測——都非常復雜，對工程師提出了極大的挑戰”，泰克高性能示波器總經(jīng)理Brian Reich表示，“通過(guò)提供強大的自動(dòng)化功能集，我們使復雜的PCIe3測試變得容易完成，同時(shí)確保得到更一致的結果。這意味著(zhù)漫長(cháng)而復雜的測試——如壓力眼圖校準、發(fā)射器一致性測試等——都將成為簡(jiǎn)單很多的工作了�！� 對于PCIe3 Rx測試，PCI-SIG測試規格要求的壓力碼型生成是自動(dòng)化的，現在包括對時(shí)鐘倍頻和眼圖張開(kāi)測試的綜合支持。另外，DUT環(huán)回控制也是自動(dòng)化的，這簡(jiǎn)化了測試過(guò)程，減少了得到測試結果的時(shí)間。支持這些功能的增強包括新DPP125C——其向壓力碼型添加了預加重，帶可變ISI的新BSAITS125集成式干擾合并器，以及新BSAPCI3自動(dòng)校準、環(huán)回和鏈路訓練軟件。構成復雜Rx解決方案的其他組成部分包括一個(gè)用于共模干擾測試的泰克AFG3000任意波形/函數發(fā)生器和基于世界級CR286A系列時(shí)鐘恢復單元的PLL環(huán)路帶寬解決方案。BERTScope的這些補充部分消除了對第三方插件 (add-on) 的需要。 對于PCIe3 Tx測試，泰克通過(guò)將用于一致性測試的PCI-SIG SigTest實(shí)用軟件直接包括進(jìn)其泰克DSA70000系列數字示波器上的TekExpress自動(dòng)化框架增強了其解決方案。通過(guò)這一集成，更新后的PCE3軟件自動(dòng)化了SigTest測試的測試儀器與DUT控制、碼型驗證、數據采集及分析，并允許對多項SigTest結果進(jìn)行定制報告。PCE3軟件還在一致性測試失敗時(shí)提供向調試的無(wú)縫轉變。 如欲了解面向PCI Express 3.0的Tx和Rx測試的全系列泰克電氣一致性、調試和驗證解決方案（包括一個(gè)30分鐘概要視頻），請訪(fǎng)問(wèn)：http://www.tek.com/technology/pci-express。 供貨信息 泰克PCI Express 3.0 Tx、Rx測試與調試解決方案現已全球供貨。 |
