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2600B系列數字源表源測量單元（SMU）儀表設計支持對各種負載使用兩種操作模式。在普通模式下，源測量單元（SMU）儀表為最大吞吐量提供高帶寬性能。在高電容模式下，源測量單元（SMU）儀表使用較慢的帶寬，為較高電容負載提供魯棒的性能。 簡(jiǎn)化半導體元件測試、驗證與分析可選配的ACS Basic版本軟件實(shí)現了客戶(hù)效率的最大化，使客戶(hù)可以在開(kāi)發(fā)、質(zhì)量認證或故障分析中，對封裝器件進(jìn)行特性分析。主要特性包括： 內容豐富、易于訪(fǎng)問(wèn)的測試庫 腳本編輯器，實(shí)現現有測試的快速定制 數據工具，便于迅速比較測試結果 公式工具，便于分析俘獲的曲線(xiàn)，并提供多種數據函數。 欲了解有關(guān)ACS Basic版本軟件的更多信息，參見(jiàn)ACS Basic版本數據表。 asic強大的軟件工具除了基于Java的嵌入式即插即用軟件以及可選配的ACS Basic版本軟件，免費Test Script Builder軟件工具，可以幫助用戶(hù)創(chuàng )建、修改、調試和存儲TSP測試腳本。圖1給出2600B系列數字源表軟件工具的主要特性。 2600B系列產(chǎn)品3個(gè)最新型號的雙通道臺式數字源表，提供業(yè)界最佳的價(jià)值和性能為了滿(mǎn)足那些不需要一流系統級自動(dòng)化能力的應用需求，吉時(shí)利對2600B系列數字源表進(jìn)行了擴展,推出3中最新的高性?xún)r(jià)比臺式型號產(chǎn)品——2604B、2614B和2634B。這些型號產(chǎn)品性能分別與2604B、2614B和2634B相似，但它們不包括TSPLink、接觸檢查以及數字I/O能力。 完整的自動(dòng)化系統解決方案 吉時(shí)利S500綜合測試系統是基于儀器的、可高度配置的系統，適合器件、晶圓或晶圓盒的半導體特性分析。S500綜合測試系統基于已被證明的2600系列系統數字源表源測量單元（SMU），提供創(chuàng )新的測量特性與系統靈活性，可以根據需求進(jìn)行升級。其獨特的測量能力， 再加上強大而靈活的自動(dòng)特性分析套件(ACS)軟件，為客戶(hù)提供全面的應用范圍和特性，這是市場(chǎng)上競爭產(chǎn)品所不具備的。 
當您需要對封裝器件數據進(jìn)行快速采集時(shí)，通過(guò)ACS Basic版本軟件基于相當的用戶(hù)界面，很容易發(fā)現和運行期望的測試，就像常見(jiàn)的 FET曲線(xiàn)跟蹤測試一樣。
ACS Basic版本軟件具有靈活的軟件體系結構，允許為系統配置多種控制器與測試夾具，并可以根據應用需要，配置所需的數字源表數量。 想與吉時(shí)利測試測量專(zhuān)家互動(dòng)？想有更多學(xué)習資源？可登錄吉時(shí)利官方網(wǎng)站http://www.keithley.com.cn/ |
