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電子控制與電子功率轉換在各行業(yè)(如發(fā)電、工業(yè)馬達驅動(dòng)與控制、運輸及IT) 發(fā)展迅速，正推動(dòng)著(zhù)功率半導體器件設計與測試的增長(cháng)。為了證明技術(shù)改進(jìn)，必須對新器件與現有器件能力進(jìn)行對比。非硅半導體材料的使用需要采用新工藝，而且，為了可持續發(fā)展，這些新工藝必須能夠交付已知的結果，并具有高產(chǎn)量。隨著(zhù)新器件設計的發(fā)展，必須對諸多器件進(jìn)行更長(cháng)周期的可靠性測試。因此，測試工程師必須找到具有高精度、可擴展和高費效比的測試設備。 功率模塊設計工程師——分布式功率半導體器件用戶(hù)——正致力于半導體器件測試工作。為了開(kāi)發(fā)DC-DC轉換器、逆變器、LED控制器、電池管理芯片以及諸多其他器件，他們在設計中采用分立半導體器件。為了實(shí)現更高的電源效率，他們必須對來(lái)自供應商的器件進(jìn)行質(zhì)量檢驗，確保其符合應用環(huán)境的要求，并預測器件對功率模塊效率的影響，最后驗證最終產(chǎn)品的性能。 吉時(shí)利源測量單元（SMU）儀器，可為器件測試工程師及功率模塊設計工程師提供測量所需的工具。不論他們對曲線(xiàn)跟蹤儀、半導體參數分析儀或示波器是否熟悉，都能簡(jiǎn)單而迅速地得到精確的結果。本應用筆記介紹了某些最常見(jiàn)的測試、相關(guān)挑戰以及吉時(shí)利源測量單元（SMU）儀器怎樣簡(jiǎn)化測量流程，特別是與吉時(shí)利參數曲線(xiàn)跟蹤儀配置進(jìn)行集成時(shí)。 下載： 
HiPowerDeviceTest SMUInsrmts_AppNote - CN.pdf
(1.07 MB)
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