ST推出新抗輻射基準電壓芯片,在各種工作條件下實(shí)現穩定可靠的性能

發(fā)布時(shí)間:2014-10-28 10:37    發(fā)布者:eechina
關(guān)鍵詞: 基準電壓 , 抗輻射
意法半導體積極開(kāi)發(fā)與航天應用相關(guān)的抗輻射產(chǎn)品組合,推出兩款并聯(lián)式基準電壓芯片(shunt Voltage References)。RHF1009A是一款可在2.5V至5.5V范圍內調整電壓的基準電壓芯片;而RHF100則是一款維持1.2V固定電壓的基準電壓解決方案。這兩款基準電壓芯片特別為航天應用領(lǐng)域設計,具有可抵抗強烈太空輻射的高耐受度,引腳與市面上的同類(lèi)工業(yè)標準的產(chǎn)品相容。兩款產(chǎn)品均已通過(guò)了美國航天局 (DLA) 的 QML-V 認證,并因其穩定優(yōu)秀的性能,被正式收入歐洲航天元器件優(yōu)選目錄 (EPPL, European Preferred Parts List) ,可供歐洲航天硬件及相關(guān)設備廠(chǎng)商選購。



兩款器件都采用意法半導體的250nm BiCMOS 制造技術(shù),此項技術(shù)的高可靠性經(jīng)過(guò)多年量產(chǎn)的消費性電子芯片和要求更嚴格的航天、汽車(chē)和醫療設備芯片以及其他抗輻射產(chǎn)品(如模數轉換器)的檢驗。

這兩款器件具有多項優(yōu)異性能,包括僅5 ppm (典型值)的溫度系數,經(jīng)由激光校對可達 +/- 0.15% 的精確度,以及器件之間卓越的溫度曲線(xiàn)匹配性;而寬達40µA至12mA的陰極電流范圍,可確保在維持靈活性的同時(shí)保證精確度和穩定性。  

除優(yōu)異的電氣性能外,兩款新產(chǎn)品還兼具同級最佳的抗電離總劑量 (TID, Total Ionization Dose) 和單粒子效應 (SEE, Single Event Effect) 的抗輻射性能,無(wú)ELDRS  效應高達 300krad  (在劑量率達到很高水平時(shí),芯片的主要參數仍可保持穩定),完全不受單粒子閉鎖效應 (Latch-up) 的影響 (在120 MeV.cm2/mg / 125°C下仍不發(fā)生單粒子閉鎖效應),發(fā)生單粒子瞬變效應的概率極低 (截面SET Cross section < 3.10-4) 。輻射效應持續時(shí)間極短,且幅度很低。

新產(chǎn)品在歐洲設計、并在取得認證后開(kāi)始制造,配有大量的定性數據、全套宏單元 (Pspice, Eldo, ADS) 和演示板。

詳情請訪(fǎng)問(wèn): www.st.com/radhard-vref-nb


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