NI推出交鑰匙HIL仿真儀,提升了硬件在環(huán)測試系統的可自定義性

發(fā)布時(shí)間:2016-8-3 13:58    發(fā)布者:eechina
關(guān)鍵詞: HIL , 仿真儀 , 硬件在環(huán)
全新的HIL仿真儀基于開(kāi)放的商用現成平臺,可降低開(kāi)發(fā)和測試風(fēng)險,而且無(wú)需犧牲靈活性

NI(美國國家儀器公司,National Instruments,簡(jiǎn)稱(chēng)NI) 推出基于開(kāi)放式模塊化架構的交鑰匙HIL仿真儀,旨在幫助汽車(chē)和航空航天行業(yè)的嵌入式軟件測試人員維護軟件質(zhì)量,同時(shí)應對日益緊迫的時(shí)間要求、不斷變化的測試需求以及人手縮減等各種挑戰。

由于NI系統均基于開(kāi)放的現成軟硬件平臺,因而可輕松將相機處理和RF I/O等新技術(shù)以及傳統的HIL組件集成到單個(gè)系統中。 與現有方法不同的是,這種可變性使得工程師能夠跟上先進(jìn)的駕駛員輔助系統、系統電氣化和先進(jìn)的傳感器集成(即雷達)等先進(jìn)技術(shù)的步伐。 借助NI的HIL仿真儀,測試工程師現在可以選擇基于工業(yè)標準平臺的開(kāi)放式交鑰匙測試系統,而不是功能固定的封閉式測試系統或者需要完全重新構建整個(gè)系統。

“我們之所以選擇NI HIL測試系統,因為該系統基于標準的開(kāi)放式平臺,使我們能夠減少測試的總成本以及硬件的長(cháng)期維護和擁有總成本,”薩博航空的Anders Tunströmer表示,“這也使得我們能夠針對我們的需求自定義系統,加快在鷹獅戰斗機的LRU集成測試中查找和修復嵌入式軟件缺陷的速度!

借助HIL仿真儀,用戶(hù)可以:
•    自定義系統,以納入相機數據、雷達目標射頻測量和生成、被動(dòng)式進(jìn)入和被動(dòng)式啟動(dòng)、胎壓監測系統和FPGA等技術(shù),用于運行先進(jìn)的模型,從而確保最大化軟件的測試覆蓋范圍
•    交鑰匙HIL仿真儀使用VeriStand測試軟件進(jìn)行開(kāi)發(fā),可實(shí)現實(shí)時(shí)仿真、激勵生成和數據采集,從而幫助用戶(hù)快速開(kāi)始進(jìn)行測試,更及時(shí)發(fā)現更多缺陷
•    復用現有模型和硬件,使用ASAM XIL行業(yè)標準,輕松集成第三方軟件模型和第三方系統

“由于不斷變化的需求以及提高測試覆蓋率的需要,大多數HIL測試系統除了常用的組件外還需要一定程度的自定義,”NI數據采集部兼嵌入式系統部副總裁Chad Chesney表示,“NI已經(jīng)標準化這些測試系統的通用組件,使我們的客戶(hù)和合作伙伴能夠專(zhuān)注于其擅長(cháng)的領(lǐng)域,確保開(kāi)發(fā)出最可靠的創(chuàng )新控制系統!

HIL仿真儀是基于PXI和CompactRIO開(kāi)放式平臺開(kāi)發(fā)的最新系統, 采用了VeriStand實(shí)時(shí)測試配置和數據記錄軟件、LabVIEW系統設計軟件以及NI新開(kāi)發(fā)的SLSC硬件,可實(shí)現標準化的信號路由、開(kāi)關(guān)、負載和信號調理。NI HIL系統還搭載了實(shí)時(shí)操作系統和FPGA技術(shù),在具有高度可自定義性的同時(shí)還可利用商用現成組件來(lái)降低長(cháng)期維護風(fēng)險。

如需深入了解HIL仿真儀,請訪(fǎng)問(wèn)www.ni.com/hil-simulators。

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