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接觸電阻就是電流流過(guò)閉合的接觸點(diǎn)對時(shí)的電阻。這類(lèi)測量是在諸如連接器、繼電器和開(kāi)關(guān)等元件上進(jìn)行的。接觸電阻一般非常小其范圍在微歐姆到幾個(gè)歐姆之間。根據器件的類(lèi)型和應用的情況，測量的方法可能會(huì )有所不同。ASTM的方法B539 “測量電氣連接的接觸電阻”和MIL-STD-1344的方法3002“低信號電平接觸電阻”是通常用于測量接觸電阻的兩種方法。通常，一些基本的原則都采用開(kāi)爾文四線(xiàn)法進(jìn)行接觸電阻的測量。 測量方法 圖4-42 說(shuō)明用來(lái)測試一個(gè)接點(diǎn)的接觸電阻的基本配置。使用具有四端測量能力的歐姆計，以避免在測量結果中計入引線(xiàn)電阻。將電流源的端子接到該接點(diǎn)對的兩端。取樣（Sense）端子則要連到距離該接點(diǎn)兩端電壓降最近的地方。其目的是避免在測量結果中計入測試引線(xiàn)和體積電阻（bulk resistance）產(chǎn)生的電壓降。體積電阻就是假定該接點(diǎn)為一塊具有相同幾何尺寸的金屬實(shí)體，而使其實(shí)際接觸區域的電阻為零時(shí)，整個(gè)接點(diǎn)所具有的電阻，設計成只有兩條引線(xiàn)的器件有的時(shí)候很難進(jìn)行四線(xiàn)連接。器件的形式?jīng)Q定如何對其進(jìn)行連接。一般，應當盡可能按照其正常使用的狀態(tài)來(lái)進(jìn)行測試。在樣品上放置電壓探頭時(shí)不應當使其對樣品的機械連接產(chǎn)生影響。例如，焊接探頭可能會(huì )使接點(diǎn)發(fā)生不希望的變化。然而，在某些情況下，焊接可能是不可避免的。被測接點(diǎn)上的每個(gè)連接點(diǎn)都可能產(chǎn)生熱電動(dòng)勢。然而，這種熱電動(dòng)勢可以用電流反向或偏置補償的方法來(lái)補償。 干電路（Dry Circuit）測試 通常，測試接點(diǎn)電阻的目的是確定接觸點(diǎn)氧化或其它表面薄膜積累是否增加了被測器件的電阻。即使在極短的時(shí)間內器件兩端的電壓過(guò)高，也會(huì )破壞這種氧化層或薄膜，從而破壞測試的有效性。擊穿薄膜所需要的電壓電平通常在30mV到100mV的范圍內。 在測試時(shí)流過(guò)接點(diǎn)的電流過(guò)大也能使接觸區域發(fā)生細微的物理變化。電流產(chǎn)生的熱量能夠使接觸點(diǎn)及其周?chē)鷧^域變軟或熔解。結果，接點(diǎn)面積增大并導致其電阻降低。 為了避免這類(lèi)問(wèn)題，通常采用干電路的方法來(lái)進(jìn)行接點(diǎn)電阻測試。干電路就是將其電壓和電流限制到不能引起接觸結點(diǎn)的物理和電學(xué)狀態(tài)發(fā)生變化電平的電路。這就意味著(zhù)其開(kāi)路電壓為20mV或更低，短路電流為100mA或更低。 由于所使用的測試電流很低，所以就需要非常靈敏的電壓表來(lái)測量這種通常在微伏范圍的電壓降。由于其它的測試方法可能會(huì )引起接點(diǎn)發(fā)生物理或電學(xué)的變化，所以對器件的干電路測量應當在進(jìn)行其它的電學(xué)測試之前進(jìn)行。 使用微歐姆計或數字多用表 圖4-42示出使用Keithley 580型微歐姆計、2010型數字多用表或2750型數字多用表數據采集系統進(jìn)行四線(xiàn)接觸電阻測量的基本配置情況。這些儀器能夠采用偏置補償模式自動(dòng)補償取樣電路中的熱電勢偏置，并且還具有內置的干電路測量能力。對于大多數的應用來(lái)說(shuō)，微歐姆計或數字多用表足以用來(lái)進(jìn)行接觸電阻的測量工作。如果短路電流或者被測電阻值比微歐姆計或數字多用表的技術(shù)指標小得很多，則必須使用納伏表加精密電流源的組合來(lái)進(jìn)行。 使用納伏表和電流源 圖4-43示出使用Keithley 2182A型納伏表和2400系列數字源表儀器進(jìn)行接觸電阻測量的測試配置情況。 2400系列儀器強制電流流過(guò)接點(diǎn)，而納伏表則測量接點(diǎn)兩端產(chǎn)生的電壓降。為了進(jìn)行干電路測試，設置數字源表的鉗位電壓為20mV，這樣就把電路的開(kāi)路電壓鉗位到20mV。為了保證鉗位電壓只出現在接點(diǎn)兩端，而不是出現在測試引線(xiàn)的兩端，該數字源表采用四線(xiàn)模式。在使用較大的電流時(shí)，這一點(diǎn)特別重要。因為和接點(diǎn)兩端的電壓降相比，測試引線(xiàn)兩端的電壓降可能會(huì )比較大。 為了避免發(fā)生瞬變現象，一定要先將電流源關(guān)閉，然后再把接點(diǎn)接入測試夾具或將其斷開(kāi)。將一個(gè)100Ω的電阻器直接跨接在電流源的輸出端，能夠進(jìn)一步降低瞬變現象。 可以使用電流反向法將熱電勢偏置降至最小。2182A的Delta模式與數字源表儀器配合可以自動(dòng)地實(shí)現這種技術(shù)。在這種模式下，2182A 自動(dòng)地觸發(fā)電流源改變極性，然后對每一種極性觸發(fā)測量一個(gè)讀數。接著(zhù)，2182A顯示“經(jīng)過(guò)補償”的電壓值： 接點(diǎn)電阻則可計算如下： 其中：I = 測試電流的絕對值。 更多I-V測試解決方案，請點(diǎn)擊http://www.keithley.com.cn/semi |
