IBM在A(yíng)SIC設計中的電源網(wǎng)絡(luò )噪聲分析

發(fā)布時(shí)間:2010-10-11 11:54    發(fā)布者:eetech
關(guān)鍵詞: ASIC , IBM , 電源 , 噪聲
1 前言

IBM在芯片設計方面有著(zhù)獨特并且有效的方式,在其開(kāi)展的ASIC業(yè)務(wù)中,不僅提供客戶(hù)高可靠性的定制化設計方案,而且擁有科學(xué)的分析能力,即便現代的芯片開(kāi)發(fā)周期不斷縮減,我們還是保持著(zhù)嚴謹的作風(fēng),提供給每一個(gè)客戶(hù)高質(zhì)量的產(chǎn)品。

本文將側重于高速信號傳輸領(lǐng)域,介紹IBM對于PowerNoise分析的一些基本思路。眾所周知,目前的竄行通訊接口一般都工作在10GBps上下,對于發(fā)送/接受,時(shí)鐘頻率控制單元有著(zhù)極其嚴苛的電氣要求,隨之而來(lái)的就是更近一步的對芯片資源規劃(FloorPlan)的要求。這些由電氣要求轉化而來(lái)的物理約束,因各種器件而不同,往往在空間資源比較緊張的項目中互相抵觸,令普通開(kāi)發(fā)者進(jìn)退兩難。對客戶(hù)不利的是,往往會(huì )有很多供應商倉促上陣,最終導致產(chǎn)品瑕疵,或者反復設計,驗證,延誤了寶貴的上市時(shí)機。

IBM的確在這方面也遇到了同樣的問(wèn)題,一邊是緊迫的交期,一邊是如何做出準確的Noise分析,特別是如何全面地進(jìn)行仿真。對于后者,基于IBM強大的計算機集群,我們很早就可以讓每個(gè)ASIC項目對所有Net的供電系統,進(jìn)行逐個(gè)驗證,而不是抽樣分析。但合理的模型,合理的分析方法,的確是我們過(guò)去一段時(shí)間一直在研究的課題。以下的內容就會(huì )對這一部分,進(jìn)行深入的探討。

2 電源網(wǎng)絡(luò )的模型及噪聲的基本概念

在A(yíng)SIC的設計過(guò)程中,電源網(wǎng)絡(luò )的噪聲分析是其中非常重要的環(huán)節,本節將重點(diǎn)介紹電源網(wǎng)絡(luò )的模型及電源網(wǎng)絡(luò )噪聲的基本概念。

2.1 IBM芯片的電源網(wǎng)格

IBM的供電網(wǎng)格,如圖1,2所示,大致上均保持著(zhù)正交的排列方式,對于大部分應用模塊不需定制。我們可以按不同的芯片尺寸,比較方便的得到它的通用模型。


圖13D模型和powerbus格點(diǎn)模型



圖2設計圖

2.2 IBM芯片的封裝模型

封裝模型的主要特點(diǎn)集中在層疊結構和Substrate設計上,如圖3,4。因為我們對每種Substrate的設計做了嚴格的限定,如布線(xiàn)風(fēng)格,TraceWidth(W),CopperThickness(T),層間厚度(H),Power/Signal層別,所以無(wú)論芯片功能差異如何,我們都可以得到一個(gè)可靠的經(jīng)驗值來(lái)反映封裝特性,比如阻抗的經(jīng)驗值,我們設定為50歐姆。


圖3


圖4

2.3 電源網(wǎng)絡(luò )的總體模型

圖5是從板級電源一直到芯片級的完整的電源網(wǎng)絡(luò )示意圖。在這個(gè)電路模型中,板級的供電電源被看作是理想電壓源,板級走線(xiàn),封裝及芯片上的電源網(wǎng)格均由電阻,電容,電感組成的電路來(lái)模擬,芯片上的IP及IO由電流源模擬。

其中板級部分產(chǎn)生低頻噪聲,封裝部分產(chǎn)生中頻噪聲,芯片級則產(chǎn)生高頻噪聲。



圖5電源網(wǎng)絡(luò )電路模型

2.4 電源網(wǎng)絡(luò )噪聲的概念

當芯片上的信號開(kāi)始跳變時(shí),如由0到1,電源網(wǎng)絡(luò )的階躍響應會(huì )如圖6所示。最低電壓值由芯片上的靜態(tài)電容值與翻轉電容值的比例決定,跳變后的諧振則為典型的LC諧振,靜態(tài)電壓降則是平均功率的體現,由網(wǎng)絡(luò )中的寄生電阻導致。穩態(tài)的交流響應與工作頻率相關(guān),其波動(dòng)的電壓值隨著(zhù)工作頻率的增加而減小。



圖6電源網(wǎng)絡(luò )階躍響應

3 IBM芯片的電源網(wǎng)絡(luò )噪聲分析

3.1 噪聲分析的流程

圖7為電源瞬態(tài)噪聲分析的基本流程,列述了各主要階段的工作重點(diǎn)。



圖7噪聲分析流程

對于A(yíng)SIC,抑制噪聲有兩種主要的方法:合理布局,以及增加去耦電容。

1.對于合理布局,有很多需要遵守的規則,除了IBM應用文檔中的基本方法,也要注意不同電路的噪聲要求。一般需要考慮到的因素有:噪聲源,受害源和翻轉率。如圖8,對于SRAM陣列,雖然供電網(wǎng)絡(luò )是相對均勻的結構,但由于等效電阻,背景電容不同,同一個(gè)IP在整個(gè)芯片擺放的位置不同也會(huì )產(chǎn)生不同的噪聲。

2.對于增加去耦電容,工具可以自動(dòng)根據電路的種類(lèi),負載,工作頻率,確定的去耦電容數目以及擺放位置,也可以手動(dòng),根據噪聲目標,以一定算法用遞歸的方式確定去耦電容數量。以SRAM群為例,將會(huì )根據其工作頻率,翻轉率,以及端口所在的位置分配去耦電容。

這種方法的缺點(diǎn)是過(guò)多的去藕電容會(huì )導致芯片內布線(xiàn)困難。



圖8布局示意圖

供電網(wǎng)路噪聲分析不僅包含工具分析的過(guò)程,也包含著(zhù)前期的預防。在預防過(guò)程中,除了工程師自身的經(jīng)驗,IBM也應用了審查表格這一形式,集成了諸多經(jīng)驗和注意事項,進(jìn)一步確保設計的順利進(jìn)行,如PINT和NTFR。

1.PINT會(huì )議:項目的早期,芯片的布局的過(guò)程中,會(huì )面臨噪聲抑制和性能折衷的問(wèn)題。PINT會(huì )議就以審查表格的形式,對基本的ASIC內容,噪聲影響,應用方式,布局進(jìn)行討論。審查過(guò)程中,將會(huì )強調某些可能會(huì )影響布局的特定的區域或者敏感IP,提供如何擺放去耦電容的建議,以及定位一些需要引起注意的噪聲受害者和攻擊者。這些具體設計前的評估,使得芯片設計工程師在早期布局的時(shí)候就能提高對噪聲問(wèn)題的關(guān)注,對于即將產(chǎn)生的設計風(fēng)險提前采取措施。

2.NTFR會(huì )議:項目的中期,基本布局確定并進(jìn)行了初步噪聲分析后,NTFR會(huì )議將會(huì )關(guān)注更為細節的部分,特別對于高速接口電路的擺放位置,時(shí)序分析,噪聲分析,將會(huì )有更加嚴格的要求。

布局,擺放去耦電容,噪聲分析,再調整布局和去耦電容數是一個(gè)遞歸過(guò)程,需要根據噪聲分析的結果不斷調整。在IBM的各個(gè)設計階段,由于網(wǎng)表的完備性不同,也都會(huì )針對每次布局或者供電網(wǎng)絡(luò )的變化進(jìn)行噪聲分析。以下是我們的一些分析方法。

1.通用封裝模型(GPM/WBGPM):局部的IO分析和模擬IP電路的variation確認。能夠分析局部IO噪聲,進(jìn)行信號完整性以及時(shí)序分析,確認模擬電路供電網(wǎng)絡(luò )噪聲是否達到要求。這個(gè)仿真比較靈活,可以在設計的各個(gè)階段進(jìn)行,比如,在布局初期,可以結合客戶(hù)板級要求,確定局部IO以及IO周?chē)拿舾须娐返姆植,在后期,與客戶(hù)的板級設計相連,完成全系統的驗證。

2.Alsim_TA:是一個(gè)用于芯片的全局分析工具,引入了3維的概念,可以同時(shí)基于時(shí)間軸和空間進(jìn)行噪聲分析。通過(guò)它,我們可以觀(guān)測到芯片的整體噪聲分布,特別是可以準確捕捉到一些強噪聲點(diǎn),觀(guān)察電源的諧振,確保元器件和去耦電容的合理放置。

運行Alsim_TA,取得準確結果的前提是Floorplan和PowerRouting必須完成。

3.頻域分析(可選):作為IBMASIC噪聲分析的一種方法,有助于分析并消除來(lái)自于鄰近內核的噪聲。

4.其它:除了上述3種方法之外,IBM還可以提供多種關(guān)于噪聲分析的其它方案。例如,生成針對于系統級仿真的芯片電源模型(見(jiàn)圖5),基于GPM的信號完整性分析,電源網(wǎng)絡(luò )諧振分析和高頻發(fā)射信號分析等。

3.2電源暫態(tài)噪聲分析的主要工具-Alsim_TA

ALSIM_TA主要工作在兩種模式下。

1.Floorplan

可以在設計的早期來(lái)運行,為設計的布局提供指導,有效地減少I(mǎi)teration.

2.FinalAnalysis

當設計已基本成型時(shí),基于規劃好的電源網(wǎng)絡(luò ),封裝的寄生參數,準確的電流波形和頻率信息,這時(shí)ALSIM_TA就可以進(jìn)行更為精確的噪聲分析。

ALSIM_TA的分析流程可以簡(jiǎn)單歸納為以下幾個(gè)步驟:

1.建立電流模型;
2.建立電源網(wǎng)絡(luò )分布模型并簡(jiǎn)化;
3.將各模型和封裝參數結合,進(jìn)行暫態(tài)仿真分析。

仿真完成的輸出結果可以反映動(dòng)態(tài)的電源噪聲,如圖9所示。



圖9ALSIM_TA仿真結果示意圖

3.3 基于Hspice的電源噪聲分析工具—GPM

GPM是基于Hspice的電源噪聲分析工具,相對于A(yíng)LSIM_TA側重于對整個(gè)芯片進(jìn)行全局仿真,GPM更著(zhù)重于分析芯片的局部噪聲情況,如圖10所示。






圖10GPM示意圖

GPM的模型可以包含封裝的寄生參數,IO,去耦電容,存儲器陣列還有部分邏輯。

GPM的分析流程可以簡(jiǎn)單總結為以下幾個(gè)步驟:

1使用AutoGPM在芯片上自動(dòng)找到IO最密集的區域,然后生成Hspice的網(wǎng)表。
2在網(wǎng)表中填入仿真所需要的參數。
3分析仿真結果,可調整電容數量來(lái)滿(mǎn)足動(dòng)態(tài)壓降的要求。

4 噪聲分析的實(shí)例

下面是噪聲分析的實(shí)例。該項目芯片封裝形式為FCBGA,最大功耗約為9.2W。主要包含的模塊:串并并串轉換電路(最高速率11Gps),靜態(tài)存儲器(最高頻率155MHz),高精度頻率發(fā)生器,以及各種高速I(mǎi)O接口電路。
圖11是Alsim_TA的分析結果,針對于全局,分為VoltageCompression和Variation兩部分。合理的布局和去耦電容的放置確保了每個(gè)IP的噪聲容限都在相應的范圍內。



圖11Alsim_TA電壓compression和variation圖

圖12為ALSIM_TA提供的具體波形圖,每種IP都分別有電流和電壓兩種波形圖。



圖12ALSIM_TA中各個(gè)模塊的電流電壓波形圖

GPM分析主要針對于局部,如圖13,其仿真范圍局限于GPM窗口內的多個(gè)IO,標準是盡可能對IO最密集的區域進(jìn)行分析,考慮其對周邊IP的最大影響,得到整個(gè)項目的WorstCase。



圖13IOGPM窗口

5 總結

目前,所有IBM的ASIC客戶(hù)都已經(jīng)體驗到了這種分析所帶來(lái)的好處,確定器件規劃的周期大大縮短,一些大膽的設計也可以放心嘗試,盡可能的將PCB和芯片布局整合起來(lái),實(shí)實(shí)在在的做出按自己意愿定制的芯片。

IBM作為一個(gè)國際化的公司,一直致力于幫助中國企業(yè)的發(fā)展。在A(yíng)ISC領(lǐng)域,我們已于多家國內知名企業(yè)展開(kāi)了有效而長(cháng)期的合作。同樣,希望我們的論文能給中國的ASIC發(fā)展做出微薄的貢獻。
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