選擇硬件在環(huán)(HIL)測試系統I/O接口

發(fā)布時(shí)間:2010-10-23 21:24    發(fā)布者:conniede
關(guān)鍵詞: FPGA , HIL , 測試
1 概覽

高性能模塊化的I/O接口是構建成功硬件在環(huán)測試系統所必須的。硬件在環(huán)(HIL)測試系統體系結構教程討論了多種硬件在環(huán)測試系統體系結構和用于實(shí)現的實(shí)時(shí)處理技術(shù)。本教程討論了多種I/O接口選項,能夠用于實(shí)時(shí)處理器創(chuàng )建您的硬件在環(huán)測試系統。


多功能I/O

硬件在環(huán)測試系統需要多種模擬、數字和計數器/定時(shí)器接口與被測電子控制單元(ECU)進(jìn)行交互。NI多功能數字采集產(chǎn)品將所有功能集成在單個(gè)設備中,為硬件在環(huán)測試系統I/O接口提供了高價(jià)值的選擇。高性能模擬數字和數字模擬轉換器結合了用于計數器/定時(shí)器功能和與實(shí)時(shí)處理器之間進(jìn)行低延時(shí)數據傳輸的板載處理能力,讓這些接口成為硬件在環(huán)測試系統應用的理想選擇。

基于FPGA的I/O

基于NI現場(chǎng)可編程門(mén)陣列(FPGA)的I/O將模擬I/O以及數字I/O與FPGA整合在單個(gè)儀器中。這些設備使用NI可重復配置I/O(RIO)FPGA技術(shù),它提供了用于可編程的FPGA功能,可以用于創(chuàng )建定制I/O功能并減少實(shí)時(shí)處理器進(jìn)行模型執行和信號處理的負荷,從而提高硬件在環(huán)測試系統的性能。使用NILabVIEWFPGA模塊,您可以定義您自己的硬件特性,而無(wú)需具備硬件描述語(yǔ)言的深入知識。

確定性分布式I/O


NI提供了全新的確定性分布式I/O產(chǎn)品,幫助您創(chuàng )建基于I/O的分布式硬件在環(huán)測試系統,降低布線(xiàn)成本和復雜性。從一系列I/O模塊中進(jìn)行選擇,創(chuàng )建分布式I/O接口通過(guò)確定性的以太網(wǎng)與您的實(shí)時(shí)處理器進(jìn)行通信。

總線(xiàn)接口

許多ECU使用通信總線(xiàn)接口與系統中的其他設備共享信息。NI提供了多種軍事/航天、汽車(chē)和工業(yè)總線(xiàn)接口,您還可以使用基于NIFPGA的I/O接口為您的硬件在環(huán)測試系統實(shí)現定制協(xié)議。

NIAIMPXI模塊的選擇包含MIL-STD-1553、ARINC429以及AFDX接口。每個(gè)模塊都帶有板載應用程序支持的處理器、豐富的板載內存和IRIG-B時(shí)間代碼生成器/解碼器,滿(mǎn)足硬件在環(huán)測試系統的需求;赑XI的模塊能夠使用PXI背板提供的高級定時(shí)與同步功能。

NICAN與FlexRay接口基于通用API,使用集成數據庫用于對FIBEX、.DBC和.NCD文件的信號進(jìn)行導入和編輯。還提供了DeviceNet、Modbus、PROFIBUS、RS232、RS485和RS422接口。

儀器級I/O

NI模塊化儀器在模塊化尺寸中提供了儀器級測量和信號發(fā)生,您可以集成到硬件在環(huán)測試系統中。從一系列數字萬(wàn)用表(DMM)、示波器、信號發(fā)生器射頻儀器中進(jìn)行選擇,然后在軟件中進(jìn)行配置滿(mǎn)足您特定測試系統的任務(wù)需求。

圖像采集

NI智能相機家族提供了VGA(640×480象素)和SXGA(1280×1024象素)解析度,使用它可以將圖像分析添加到硬件在環(huán)測試系統中驗證儀器面板顯示或執行器響應。通過(guò)在板載PowerPC和數字信號處理(DSP)協(xié)處理器上直接處理圖像,能夠確保對硬件在環(huán)測試系統產(chǎn)生最小的影響。

運動(dòng)控制

NI提供了一系列運動(dòng)控制解決方案,其中包括包含完整功能的高性能控制器,可用于最復雜的需求和低成本運動(dòng)控制器,滿(mǎn)足點(diǎn)對點(diǎn)運動(dòng)控制應用的需求。NI運動(dòng)控制產(chǎn)品提供了高級功能,幫助您有效實(shí)現例如精確定位、多軸同步和以已定義的速度、加速度或減速度運動(dòng)等通用任務(wù)。

第三方硬件支持

使用PXI多廠(chǎng)商標準提供了來(lái)自70多個(gè)廠(chǎng)商的超過(guò)1200種產(chǎn)品,確保NI硬件在環(huán)平臺始終滿(mǎn)足您的硬件在環(huán)應用需求。

2 總結

如果您希望在硬件在環(huán)測試系統中實(shí)現硬件故障插入,請了解NI硬件在環(huán)平臺上的可用選擇。

要完成您的硬件在環(huán)測試系統,了解用于硬件在環(huán)測試系統實(shí)現的軟件技術(shù),包括測試自動(dòng)化、需求管理、建模、分析以及報告,請閱讀開(kāi)發(fā)硬件在環(huán)(HIL)測試系統應用。
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