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NI(美國國家儀器公司，National Instruments，簡(jiǎn)稱(chēng)NI) 今日宣布將在夏威夷檀香山舉行的2017國際微波會(huì )議(IMS)上展示一項準5G波形發(fā)生和測量技術(shù)。 該展示將包含代表Verizon 5G技術(shù)論壇(5GTF)和3GPP提出的新無(wú)線(xiàn)電(New Radio, NR)物理層波形的信號生成和分析。 這一技術(shù)展示將使用1 GHz帶寬的PXIe-5840第二代矢量信號收發(fā)儀(VST)與用于波形調制和解調的準5G軟件。波形調制的關(guān)鍵特征包括支持離散傅里葉變換擴展正交頻分復用(DFT-S-OFDM)和正交頻分多址(OFDMA)以及支持3GPP 5G NR和Verizon 5GTF規范的靈活子載波間隔和分量載波配置，總帶寬為1 GHz。該演示支持高達256-QAM的調制類(lèi)型，測量結果包含功率、相鄰信道功率和誤差矢量幅度。 該演示的典型應用包括RF功率放大器、前端模塊和收發(fā)器等RFIC的測試。 NI無(wú)線(xiàn)設計和測試副總裁Charles Schroeder：“NI以軟件為中心的測試測量方法可允許PXI測試系統隨著(zhù)軟件的更新速度進(jìn)行更新。 借助這種方法，工程師可以使用當前用于測試LTE-A和LTE-A Pro產(chǎn)品的VST測試系統來(lái)測試未來(lái)的5G產(chǎn)品�！� NI的新5G測試技術(shù)與其廣泛的RF和無(wú)線(xiàn)測試產(chǎn)品系列相得益彰，新的軟件進(jìn)一步完善了現有的802.11a/b/g/j/n/p/ac/ax,、藍牙GSM、UMTS、LTE/LTE-A、FM/RDS、GNSS測試解決方案。 NI的RF和無(wú)線(xiàn)智能測試系統基于NI先進(jìn)的VST技術(shù)，可幫助工程師降低測試成本。 這些測試系統將受益于從直流到毫米波等不同工作頻率范圍的600多個(gè)PXI產(chǎn)品。它們采用PCI Express第三代總線(xiàn)接口，具有高吞吐量數據移動(dòng)，同時(shí)具有亞納秒級同步以及集成的定時(shí)和觸發(fā)。 LabVIEW和TestStand軟件環(huán)境的高效生產(chǎn)力，以及一個(gè)由合作伙伴、附加IP和應用工程師組成的充滿(mǎn)活力的生態(tài)系統，可幫助用戶(hù)大幅降低測試成本，縮短上市時(shí)間，開(kāi)發(fā)面向未來(lái)的測試設備來(lái)應對未來(lái)的種種挑戰。 如需了解更多關(guān)于VST的信息，請訪(fǎng)問(wèn)www.ni.com/vst/。 |
