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純石墨烯(graphene)薄片制成的IC能以比硅芯片更低的溫度、更高的速度運作，但遺憾的是，無(wú)缺陷的石墨烯薄片非常難產(chǎn)生，甚至其缺陷也很難表征出來(lái)。為此美國康乃爾大學(xué)(Cornell University)研究人員宣布發(fā)明了一種影像技術(shù)，能通過(guò)將石墨烯薄片色彩化，來(lái)簡(jiǎn)化其量測方法，快速地辨識出石墨烯薄片的特性。 康乃爾大學(xué)發(fā)明的新技術(shù)，能通過(guò)將完美的石墨烯片邊緣著(zhù)色，來(lái)區分出石墨烯薄片的哪些區域是真正的單層膜(monolayers)；利用繞射成像電子顯微鏡(diffraction imaging electron microscopy)，該技術(shù)能量測出電子從石墨烯薄片表面反彈的角度，然后用不一樣的顏色來(lái)標示，所產(chǎn)生的色彩化薄片影像，就能很快地根據其定位辨識出晶界(grain boundaries)。 采用該技術(shù)所產(chǎn)生的影像，看起來(lái)就像是一幅拼布作品；較大的固定區域代表完美的單分子膜小薄片，被著(zhù)色的邊緣則代表那些小薄片之間的不完美接口。這個(gè)研發(fā)計劃是由美國國家科學(xué)基金會(huì )(NSF)所贊助。 |
