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半導體分立器件是組成集成電路的基礎，包含大量的雙端口或三端口器件，如二極管，晶體管，場(chǎng)效應管等。 直流 I-V 測試則是表征微電子器件、工藝及材料特性的基石。通常使用 I-V 特性分析，或 I-V 曲線(xiàn)，來(lái)決定器件的基本參數。微電子器件種類(lèi)繁多，引腳數量和待測參數各不相同，除此以外，新材料和新器件對測試設備提出了更高的要求，要求測試設備具備更高的低電流測試能力，且能夠支持各種功率范圍的器件。分立器件 I-V 特性測試的主要目的是通過(guò)實(shí)驗，幫助工程師提取半導體器件的基本 I-V 特性參數，并在整個(gè)工藝流程結束后評估器件的優(yōu)劣。隨著(zhù)器件幾何尺寸的減小，半導體器件特性測試對測試系統的要求越來(lái)越高。通常這些器件的接觸電極尺寸只有微米量級，這些對低噪聲源表，探針臺和顯微鏡性能都提出了更高的要求。普賽斯儀表自主研發(fā)的高精度數字源表，填補國產(chǎn)空白，集電壓、電流輸入輸出及測量等多種功能，最大輸出電壓達300V，最小測試電流達100pA，支持四象限工作，因此能廣泛的應用于各種電氣特性測試中:半導體IC或元器件，功率器件，傳感器，有機材料與納米材料等特性測試和分析。 
普賽斯源表功能：精確提供四象限電壓或電流，并同步測量電流和電壓；可以實(shí)現電源、萬(wàn)用表、電子負載、電源/測量組合功能； 用途：精確提供和測量電壓和/或電流，廣泛應用于各種電器特性參數測試中，如IV掃描； 普賽斯源表優(yōu)勢：四象限工作，源和負載；電壓及電流范圍廣，電流100pA~1A，電壓0.3mV~300V，準確度為0.1%；5寸觸摸顯示屏圖形化操作，內置強大的功能軟件，加速用戶(hù)完成測試；支持多種通訊方式，RS-232、GPIB及以太網(wǎng)； 額外功能（軟件實(shí)現的）：二極管IV掃描及參數分析、三極管IV掃描及參數分析、LIV測試系統、太陽(yáng)能電池放電測試系統、電池充放電循環(huán)系統等； 普賽斯源表應用領(lǐng)域：分立半導體器件特性測試，電阻、二極管、發(fā)光二極管、齊納二極管、PIN二極管、BJT三極管、MOSFET、SIC等；能量與效率特性測試，LED/AMOLED、太陽(yáng)能電池、電池、DC-DC轉換器等；傳感器特性測試，電阻率、霍爾效應等；有機材料特性測試，電子墨水、印刷電子技術(shù)等；納米材料特性測試，石墨烯、納米線(xiàn)等； 普賽斯源表應用方案：二極管IV測試、激光二極管LIV測試、三極管MOS管IV測試、APD管IV測試、太陽(yáng)能電池板特性參數測試、電池充放電特性參數測試、電化學(xué)循環(huán)伏安測試； 普賽斯源表替代方案：吉時(shí)利2400、是德B2901 |
