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將零周期訪(fǎng)問(wèn)、10Gbps數據速率、USB3、USB2和eUSB等標準和功能的兼容性結合在一起 UltraSoC日前推出了一種全新的USB解決方案，它支持系統級芯片（SoC）和系統開(kāi)發(fā)團隊，即使是在已經(jīng)部署于現場(chǎng)的系統中，仍能夠以高達10Gbps的速率在系統層面上實(shí)現功能強大的分析、優(yōu)化和調試。UltraSoC的USB 2.0半導體知識產(chǎn)權（IP）是一項基于硬件的、已獲得專(zhuān)利的裸機技術(shù)，無(wú)需運行任何軟件即可建立通信。當與第三方提供的高速USB 3.1 IP結合使用時(shí)，它可使工程師能夠有效地獲取大量豐富的系統性能數據，并在啟動(dòng)時(shí)從“零周期”進(jìn)行訪(fǎng)問(wèn)，還支持eUSB訪(fǎng)問(wèn)利用先進(jìn)工藝節點(diǎn)來(lái)設計的器件。 這個(gè)經(jīng)流片驗證的解決方案的設計目標是支持高速數據訪(fǎng)問(wèn)且保持合理成本：該解決方案基于USB標準，不需要昂貴的調試探針，它可與任何PC相兼容，并且可以通過(guò)一個(gè)簡(jiǎn)單的軟件驅動(dòng)與任何開(kāi)發(fā)工具一起使用。 對于開(kāi)發(fā)人員來(lái)說(shuō)，越來(lái)越重要的是能夠在系統層面“深入了解”產(chǎn)品，以?xún)?yōu)化性能和調試解決問(wèn)題。這一需求貫穿于產(chǎn)品的整個(gè)生命周期，包括在現場(chǎng)部署之后。在這種情況下，對電子設備物理層進(jìn)行的訪(fǎng)問(wèn)可能會(huì )受到限制，這時(shí)開(kāi)發(fā)人員需要通過(guò)產(chǎn)品自身可用的接口來(lái)獲取大量的數據 — 這通常是指USB接口。將第三方的USB 3 IP和UltraSoC在此方面的解決方案相結合，為開(kāi)發(fā)人員提供了一種理想的解決方案。 任何調試和分析接口都必須滿(mǎn)足兩個(gè)重要的設計要求。首先，在系統出現故障時(shí)，接口本身必須是強大且完好的：如果系統軟件在開(kāi)啟時(shí)無(wú)法引導啟動(dòng)，或在運行過(guò)程中發(fā)生無(wú)法恢復的崩潰，接口必須仍然能夠實(shí)現內部分析、診斷和調試功能。這就是所謂的“周期零要求”。其次，接口必須能夠滿(mǎn)足系統內生成的數據速率。CPU追蹤功能和嵌入式監測器（例如UltraSoC提供的監測器）可以生成大量的數據集，這些數據集需要被快速移出芯片以進(jìn)行分析。隨著(zhù)系統功能變得越來(lái)越強大和復雜，這會(huì )是一個(gè)日益嚴重的問(wèn)題。UltraSoC的解決方案可以滿(mǎn)足這兩個(gè)關(guān)鍵的要求。 “USB作為調試接口的好處是眾所周知的：事實(shí)上，我們的客戶(hù)已經(jīng)以這種方式使用USB很多年了；并且也告訴我們說(shuō)：我們的解決方案是非常強大的”。UltraSoC首席執行官Rupert Baines說(shuō)，“USB在‘現存的’產(chǎn)品中可以很容易找到，而且不需要額外的芯片引腳就可提供高性能訪(fǎng)問(wèn)，它與采用專(zhuān)用的調試接口（例如JTAG）或專(zhuān)用的高速調試端口（這需要一個(gè)專(zhuān)用的接口和一個(gè)昂貴的調試探針）等方式不同。因此，它是一種用于獲取電子產(chǎn)品分析數據的理想接口，而這些電子產(chǎn)品在整個(gè)生命周期中越來(lái)越需要對其進(jìn)行持續的監測和改進(jìn)�！� UltraSoC的嵌入式分析技術(shù)實(shí)現了對SoC的分析和監測，而且無(wú)需擔心被監測的是何種CPU或體系架構。UltraSoC的嵌入式分析技術(shù)可適用于所有主流的指令集架構（ISA），包括開(kāi)源RISC-V甚至是混合（異構）架構，并可與所有第三方工具完全兼容。 |
