作者:Teledyne 摘要 無(wú)線(xiàn)技術(shù)在過(guò)去的20年里快速從3G發(fā)展到4G,現在已到了 5G的時(shí)代。有一個(gè)技術(shù)問(wèn)題一直貫穿這一發(fā)展的過(guò)程,即高頻器件的自動(dòng)校準測試。 RF ATE和現場(chǎng)測試系統面臨的最困難的挑戰是校準、可重復 性和測試結果的關(guān)聯(lián)度。未來(lái)的無(wú)線(xiàn)技術(shù)的發(fā)展需要5G NR器件。Teledyne e2v的四通道多輸入端口ADC利用非并行片 上高頻交叉點(diǎn)開(kāi)關(guān)輸入電路技術(shù),使用戶(hù)可在RF ATE和/或現 場(chǎng)測試環(huán)境中使用自動(dòng)校準和測量技術(shù)。 Teledyne e2v的EV12AQ605和EV10AQ190(采用交叉點(diǎn)開(kāi) 關(guān)輸入電路技術(shù)的12位和10位四通道ADC)使RF ATE和現 場(chǎng)測試設備的開(kāi)發(fā)可以集中于單通道和多端口5G NR設備的 自動(dòng)校準測試和測量。 下載全文: ![]() |