如何不費力的給電子元器件做老化測試？

由于社會(huì )發(fā)展的需要，電子裝置變的越來(lái)越復雜，這就要求了電子裝置必須具有可靠性、速度快、消耗功率小以及質(zhì)量輕、小型化、成本低等特點(diǎn)。自20世紀50年代提出集成電路的設想后，由于材料技術(shù)、器件技術(shù)和電路設計等綜合技術(shù)的進(jìn)步，在20世紀60年代研制成功了第一代集成電路。在半導體發(fā)展史上。集成電路的出現具有劃時(shí)代的意義：它的誕生和發(fā)展推動(dòng)了銅芯技術(shù)和計算機的進(jìn)步，使科學(xué)研究的各個(gè)領(lǐng)域以及工業(yè)社會(huì )的結構發(fā)生了歷史性變革。憑借優(yōu)越的科學(xué)技術(shù)所發(fā)明的集成電路使研究者有了更先進(jìn)的工具，進(jìn)而產(chǎn)生了許多更為先進(jìn)的技術(shù)。這些先進(jìn)的技術(shù)有進(jìn)一步促使更高性能、更廉價(jià)的集成電路的出現。對電子器件來(lái)說(shuō)，體積越小，集成度越高；響應時(shí)間越短，計算處理的速度就越快；傳送頻率就越高，傳送的信息量就越大。半導體工業(yè)和半導體技術(shù)被稱(chēng)為現代工業(yè)的基礎，同時(shí)也已經(jīng)發(fā)展稱(chēng)為一個(gè)相對獨立的高科技產(chǎn)業(yè)。尤其需要一種能對電子元器件進(jìn)行自動(dòng)測試的系統。

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Ø 系統能夠實(shí)現對FPFA/DSP芯片、電磁繼電器、電容、電源模塊等在環(huán)境應力在的高速瞬時(shí)測試。

Ø 可實(shí)現對電源、LCR數字電橋、絕緣耐壓測試儀、電子負載、示波器、邏輯分析儀、數據采集器等測試儀器的并行控制。

Ø 所有儀器的連接可在硬件設置界面通過(guò)自動(dòng)檢測的功能實(shí)現，并支持儀器更換品牌型號的兼容。

Ø 在進(jìn)行環(huán)境應力測試與被測產(chǎn)品參數測試前用戶(hù)只需對儀器設備的參數進(jìn)行設置，即可進(jìn)入自動(dòng)化測試。

Ø 測試系統滿(mǎn)足不同產(chǎn)品在環(huán)境應力實(shí)驗的同時(shí)進(jìn)行多種參數的測試。

Ø 系統滿(mǎn)足在線(xiàn)測試的要求，提供多功能的對象適配模塊，使被測產(chǎn)品可固定可外接高頻耐高溫鍍銀線(xiàn)纜實(shí)現實(shí)時(shí)測試，且對象適配模塊兼容不同被測產(chǎn)品類(lèi)型。

Ø 針對FPGA多達256引腳測試，系統采用引腳測試模塊與對象適配模塊的方式完成�？蓪⑿酒�256路引腳接入外圍的引腳測試模塊中，并行測試結束后，用戶(hù)可更換引腳測試模塊的連接線(xiàn)至下一批測試的引腳，這樣順序執行即可完成256路引腳測試。

Ø 系統不但運行時(shí)間長(cháng)，而且能夠確保數據的準確性和運行的穩定性。

Ø 系統提供用戶(hù)自定義報告模板的功能，實(shí)現報告的多樣化和靈活性。

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