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基于KTE7的全新S530平臺最大化測量性能、降低成本，助力半導體制造商開(kāi)拓新興市場(chǎng) 泰克科技日前發(fā)布了全新Keithley S530系列參數測試系統，該系統搭載了KTE 7軟件，提供更多增強功能。S530平臺使半導體制造商為高速增長(cháng)的新技術(shù)增加參數測試功能，同時(shí)最大程度地減少資本投入和提高每小時(shí)晶圓制造效率。這將降低整體擁有成本，幫助制造商在競爭激烈的新興市場(chǎng)中應對巨大的價(jià)格壓力。 
基于新興GaN和SiC寬禁帶技術(shù)的新型半導體產(chǎn)品，有望實(shí)現更快的開(kāi)關(guān)速度，更寬的溫度范圍，更好的功率效率，以及其他更多增強功能。為滿(mǎn)足這些產(chǎn)品的測試需求，基于KTE 7的S530平臺擁有實(shí)驗室級測量性能，并且設置和測試時(shí)間最短。針對新應用的出現和需求的變化，可以實(shí)現高達1100V的全面靈活的高速配置。芯片制造商以最少的測試/設置時(shí)間，在單個(gè)系統上、以最少的投資，可以經(jīng)濟高效地擴展到高增長(cháng)的功率和寬禁帶器件中(包括汽車(chē)市場(chǎng))。 “模擬和混合信號半導體制造商在5G通信、汽車(chē)、物聯(lián)網(wǎng)、醫療、綠色能源等市場(chǎng)，不斷受到新的最終用戶(hù)應用的強勁需求�！�吉時(shí)利/泰克公司副總裁兼總經(jīng)理Chris Bohn說(shuō)，“測試平臺的這一重大升級，可以幫助這些客戶(hù)更迅速、更經(jīng)濟地向市場(chǎng)上推出新產(chǎn)品，同時(shí)使他們能夠適應未來(lái)的新要求�！� S530系列的創(chuàng )新技術(shù)在多種產(chǎn)品組合中最大化儀器的利用率，現有的測試軟件、探頭卡和其他項目可以簡(jiǎn)便實(shí)現升級換代，同時(shí)全面實(shí)現數據關(guān)聯(lián)，明顯改善速度。S530-HV能夠在任何引腳上測試高達1100V的電壓，與功率和寬禁帶應用中的其他競爭系統相比，吞吐量可提升50%以上。芯片制造商可以使用單個(gè)系統測試多種產(chǎn)品組合，包括根據IATF-16949質(zhì)量管理標準進(jìn)行汽車(chē)產(chǎn)品測試，也可以通過(guò)泰克的服務(wù)機構進(jìn)行校準，以提供全球范圍內的優(yōu)質(zhì)人員支持。 基于KTE 7的平臺為半導體制造商的傳統S600和S400系統提供了最簡(jiǎn)便、最經(jīng)濟的演進(jìn)道路，在保持全面數據關(guān)聯(lián)的同時(shí)，與S600相比，吞吐量可以提高達25%。 功能明顯增強，并創(chuàng )下多項業(yè)界第一 從低壓(<200V)轉移到高壓(>200V)晶圓級測試時(shí)，S530-HV選配的Testhead省去了更換儀表、探針卡和線(xiàn)纜測試設置所需的操作員時(shí)間。通過(guò)Testhead測試頭，探針卡可以兼容多家廠(chǎng)商的多種型號，從而可以更快地更換探針卡，并根據ISO-17025進(jìn)行引腳校準，同時(shí)保持向后兼容性。這可以最大限度地降低演進(jìn)成本，保護了用戶(hù)投資，同時(shí)支持各種新的要求，比如IATF-16949汽車(chē)標準。 S530-HV可以在任何引腳上測試高達1100V的電壓，其吞吐量在功率和寬禁帶應用中較競爭系統提高50%以上。操作人員可以把任何測試資源以任何順序連接到任何測試引腳，迅速簡(jiǎn)便地滿(mǎn)足生產(chǎn)要求，而無(wú)需重新配置或重新裝備信號路徑。 KTE軟件兼容能力大大簡(jiǎn)化并加快了例如從傳統S600系統的演進(jìn)道路，實(shí)現全面數據關(guān)聯(lián)，吞吐量可提高達25%。 內置瞬態(tài)過(guò)壓/過(guò)流保護防止意外損壞探針卡、探針和儀器，這在高速寬禁帶應用中尤為關(guān)鍵。 在系統校準過(guò)程中，全新5880-SRU系統基準單元自動(dòng)切換所有DC和AC參考標準，而無(wú)需手動(dòng)連接或斷開(kāi)。這種全自動(dòng)流程大大縮短了執行校準時(shí)的系統中斷時(shí)間，降低了后續支持成本，進(jìn)而降低了整體擁有成本。 供貨情況 S530系列參數測試系統現已在全球范圍內上市，如需更多信息，敬請訪(fǎng)問(wèn)：https://www.tek.com.cn/keithley-s540-parametric-test-system。 |
