是德科技推出新型并行參數測試系統,助力實(shí)施經(jīng)濟高效的高吞吐量晶圓測試

發(fā)布時(shí)間:2021-12-7 14:51    發(fā)布者:eechina
關(guān)鍵詞: 參數測試 , 晶圓測試 , 半導體測試
新型探針卡適配器和 SPECS 軟件支持制造產(chǎn)能平穩提升
       
是德科技公司(NYSE:KEYS)日前宣布,推出新型 Keysight P9002A 并行參數測試系統。該系統可以實(shí)現高吞吐量、經(jīng)濟高效的晶圓測試,從而加速產(chǎn)品上市,降低制造測試成本。

目前,全球半導體供應不足導致半導體的需求尤其是在汽車(chē)行業(yè)、數字設備和家用電器行業(yè)不斷地加大。半導體技術(shù)創(chuàng )新雖然進(jìn)展迅速,然而該行業(yè)在適應新材料、降低外形尺寸以及 3D 封裝工藝方面遇到了一系列技術(shù)挑戰。此外,針對 5G、數據中心、人工智能(AI)和汽車(chē)等商業(yè)應用而設計的各種復雜器件也導致了測試參數有增無(wú)減。

為了應對這一挑戰并使得制造商能夠快速提升產(chǎn)能,是德科技推出了新型 P9002A 并行參數測試系統。該系統可以實(shí)現高吞吐量、經(jīng)濟高效的晶圓測試。它采用了一個(gè)靈活的選件結構,可用于最多 100 個(gè)通道并行測試資源,有能力對每個(gè)測試資源執行參數測試。是德科技 P9000 系列運行的軟件可以與 SPECS 軟件兼容,后者運行在 4080 系列參數測試系統上,因此客戶(hù)能夠充分利用有數據關(guān)聯(lián)性的現有測試程序和測試計劃。

是德科技的新型 P9002A 并行參數測試系統具有以下關(guān)鍵優(yōu)勢:
        能夠根據測試要求添加選件,采用了有利于控制成本預算的許可證結構。
        與 4080 系列參數測試系統相比,獨特的參數測試技術(shù)和快速電容測量可顯著(zhù)提高測試吞吐量。
        可以兼容 Keysight 4080 系列參數測試系統并關(guān)聯(lián)數據,使得客戶(hù)能夠充分利用其現有測試系統程序、測試計劃、探針卡及兼容 4080 測試系統的探針卡適配器,從而最大限度降低搭建新 P9002A 測試環(huán)境的成本。

是德科技副總裁兼晶圓測試解決方案總經(jīng)理 Shinji Terasawa 表示:“是德科技非常高興通過(guò) P9002A 測試系統之類(lèi)的先進(jìn)測量解決方案為日新月異的半導體研發(fā)和制造提供支持。是德科技致力于運用我們在參數測試方面的成熟經(jīng)驗和專(zhuān)業(yè)知識幫助客戶(hù)應對業(yè)務(wù)挑戰,這個(gè)新解決方案就反映了我們做出的承諾!

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