挑戰: 為藍光播放機產(chǎn)品開(kāi)發(fā)一種可靠、全自動(dòng)且經(jīng)濟合算的測試系統,以縮短質(zhì)量檢驗時(shí)間。 解決方案: 使用NI LabVIEW和PXI模塊化儀器,包括高速數字化儀、圖像采集模塊、動(dòng)態(tài)信號采集模塊和一個(gè)多功能數據采集模塊,在預算范圍內滿(mǎn)足性能和質(zhì)量要求,同時(shí)將測試數據吞吐率提高33%。 ![]() 藍光播放器診斷測試人機界面 作者: Koh Chee Lit - Sony EMCS 藍光光盤(pán)(Blu-ray Disc,BD)是下一代刻錄、重寫(xiě)和回放高清視頻的光學(xué)光盤(pán)格式。為了使不同供應商生產(chǎn)的藍光光盤(pán)產(chǎn)品具有統一的品質(zhì),藍光光盤(pán)協(xié)會(huì )(Blu-ray Disc Association,BDA)制訂了設備規格和符合性測試程序。我們使用LabVIEW和PXI模塊化儀器來(lái)創(chuàng )建滿(mǎn)足這些規范的藍光播放機自動(dòng)診斷測試程序,利用該程序實(shí)現對藍光播放機產(chǎn)品的可靠、自動(dòng)且經(jīng)濟合算的測試。 使用傳統系統的測試限制 我們以前的測試系統包括一臺電腦和一個(gè)可用GPIB控制的示波器,在使用這種老式設備的時(shí)候我們遇到了一些限制。示波器僅有四個(gè)通道,不能同時(shí)測試藍光播放機的多個(gè)輸出。因此,我們在該系統中集成了一個(gè)開(kāi)關(guān),這導致了工作時(shí)間增加。我們還需要建立并行測試站以滿(mǎn)足我們的日常生產(chǎn)目標,這將使設備成本變得更高。 使用PXI和LabVIEW開(kāi)發(fā)新系統 為了開(kāi)發(fā)更靈活可靠的測試系統,我們基于NI PXI硬件和LabVIEW圖形化編程軟件設計了測試系統,這樣縮短了所需的程序開(kāi)發(fā)時(shí)間。 我們通過(guò)RS232接口和RJ45以太網(wǎng)端口來(lái)執行設備識別,這同時(shí)可用于Windows操作系統下運行的新系統中的PXI嵌入式控制器。該系統還可以檢測連接到被測設備(Device Under Test,DUT)的USB設備。我們在使用LabVIEW編程時(shí)結合了自動(dòng)鍵按鈕和紅外(Infrared Radiation,IR)遠程檢測功能。 對于視頻測試,我們使用了高分辨率的NI數字化儀進(jìn)行復合視頻信號測量,包括白電平、色同步幅值以及同步脈沖幅值。每幅獲取的視頻圖像都會(huì )顯示在用戶(hù)界面由操作人員目測檢查。這種基于PXI的解決方案還允許我們在同一系統下測量視頻分量(Y,Pb,Pr)信號。 此外,我們使用具有24位分辨率的8通道NI動(dòng)態(tài)信號采集模塊測量了7+1通道音頻輸出信號,同時(shí)還使用LabVIEW測量并分析了全部8個(gè)通道的峰峰值和均方根值(Root Mean Square,RMS)電壓和信號頻率。日本市場(chǎng)上的藍光光盤(pán)產(chǎn)品附加信號,如D端子信號和控制電壓幅值等,可以使用數據采集設備的模擬輸入來(lái)測量。該系統為每個(gè)被測設備的測試結果保存數據記錄,以便進(jìn)行數據共享和跟蹤。 對于系統的外部硬件,我們使用了數字I/O模塊來(lái)為被測設備提供自動(dòng)控制,使用一個(gè)電磁閥和氣缸開(kāi)發(fā)了自定義控制箱控制視頻和音頻插孔、HDMI與 USB接頭、以太網(wǎng)端口以及連接到每個(gè)被測設備的供電電源。我們還使用了一個(gè)固體繼電器來(lái)控制交流輸入到被測設備。使用這套系統,操作者只需按下鍵盤(pán)上的一個(gè)按鍵便可以將被測設備上的所有端口連接到測試站,同時(shí)該系統還提供故障診斷。 未來(lái)發(fā)展 使用LabVIEW和PXI,我們大大縮短了藍光播放機的測試時(shí)間。使用新式藍光光盤(pán)診斷測試套件,我們可以同時(shí)測量多路音頻和視頻輸出、以太網(wǎng)和 USB端口以及諸如冷卻風(fēng)扇等一些其他組件。新的質(zhì)量測試系統將測試時(shí)間最小化以滿(mǎn)足日益增加的生產(chǎn)目標,同時(shí)能夠每天24小時(shí)持續可靠運行,這也提高了我們生產(chǎn)的效率。我們正使用NI TestStand測試管理軟件來(lái)更新當前測試系統,以進(jìn)一步改善我們的測試時(shí)間,提高數據記錄效率,并提供完整的用戶(hù)滿(mǎn)意度。這個(gè)提供了低成本消耗及現成組件的NI解決方案,可以幫助用戶(hù)滿(mǎn)足不斷變化的測試需求和高效的發(fā)布新產(chǎn)品。 作者信息: Koh Chee Lit Sony EMCS Jalan Kemajuan Bangi Industrial Estate Bandor Bara Bangi 43650 馬來(lái)西亞 Tel: 03-89283758 cheelit.koh@ap.sony.com |