電子元器件FMEA的常見(jiàn)失效

發(fā)布時(shí)間:2020-12-7 17:12    發(fā)布者:藍信偉業(yè)
關(guān)鍵詞: 電子元器件 , 微電子器件 , FMEA
電子元器件的失效是引發(fā)電子電路或系統故障的主要因素。
電子元器件失效率曲線(xiàn)的特征:浴盆曲線(xiàn)(見(jiàn)附件)
如圖:從曲線(xiàn)上可以看到,電子元器件的失效周期隨時(shí)間的變化大致分為三個(gè)階段:早期失效期、偶然失效期、耗損失效期。

早期失效期,此階段的特點(diǎn):失效率高、可靠性低,但隨工作時(shí)間的增加而失效率迅速下降。產(chǎn)生早期失效的原因:一 元器件在設計制造工藝上的缺陷;二 元器件本身材料、結構上的缺陷;
偶然失效期,是電子元器件的正常工作期,其特點(diǎn)是失效率比早期失效率低且穩定。這一時(shí)期的失效由偶然不確定因素引起,失效時(shí)間也是隨機的。

耗損失效期,與早期失效期相反,失效率隨工作時(shí)間增加而上升。此階段由于元器件長(cháng)期使用而產(chǎn)生的損耗、磨損、老化、疲勞等有原因引起。

電子元器件的可靠性與規定的條件是分不開(kāi)的,規定條件是由使用時(shí)的工作條件、環(huán)境條件或儲存條件等組成。工作條件指使用時(shí)的電壓、電流和功率等,環(huán)境條件或儲存條件是指所處的溫度、濕度和氣壓等。

根據經(jīng)驗,電子元器件故障的原因主要有兩個(gè):一是不正常的電氣條件;二是不正常的工作環(huán)境。優(yōu)良的電氣條件取決于電路的正確設計。如果元件能夠在額定狀態(tài)下工作,其壽命就會(huì )較長(cháng)。如果過(guò)載使用,壽命就會(huì )縮短。其次,環(huán)境條件中如高溫、高濕、空氣中的塵埃和腐蝕性化學(xué)物質(zhì)、ESD等都會(huì )影響元器件的壽命。

常見(jiàn)的元器件失效如下:(見(jiàn)附件)
而按照導致的原因可將失效機理分為以下六種:
1、設計問(wèn)題引起的劣化
指版圖、電路和結構等方面的設計缺陷;
2、體內劣化機理
指二次擊穿、CMOS 閉鎖效應、中子輻射損傷、重金屬玷污和材料缺陷引起的結構性能退化、瞬間功率過(guò)載等;
3、表面劣化機理
指鈉離子玷污引起溝道漏電、γ輻射損傷、表面擊穿( 蠕變) 、表面復合引起小電流增益減小等;
4、金屬化系統劣化機理
指鋁電遷移、鋁腐蝕、鋁化傷、鋁缺口、臺階斷鋁、過(guò)電應力燒毀等;
5、封裝劣化機理
指管腿腐蝕、漏氣、殼內有外來(lái)物引起漏電或短路等;
6、使用問(wèn)題引起的損壞
指靜電損傷、電浪涌損傷、機械損傷、過(guò)高溫度引起的破壞、干擾信號引起的故障、焊劑腐蝕管腳等。


參考文獻

劉宇通,《電子元器件的失效機理和常見(jiàn)故障分析》  ,工程應用
莊奕琪,《微電子器件應用可靠性技術(shù)》,電子工業(yè)出版社

QQ截圖20201207170045.jpg (7.72 KB)

QQ截圖20201207170045.jpg

QQ截圖20201207170139.jpg (37.65 KB)

QQ截圖20201207170139.jpg
本文地址:http://selenalain.com/thread-750034-1-1.html     【打印本頁(yè)】

本站部分文章為轉載或網(wǎng)友發(fā)布,目的在于傳遞和分享信息,并不代表本網(wǎng)贊同其觀(guān)點(diǎn)和對其真實(shí)性負責;文章版權歸原作者及原出處所有,如涉及作品內容、版權和其它問(wèn)題,我們將根據著(zhù)作權人的要求,第一時(shí)間更正或刪除。
藍信偉業(yè) 發(fā)表于 2020-12-8 11:02:54
ddddddddddd看看孩子吧
您需要登錄后才可以發(fā)表評論 登錄 | 立即注冊

關(guān)于我們  -  服務(wù)條款  -  使用指南  -  站點(diǎn)地圖  -  友情鏈接  -  聯(lián)系我們
電子工程網(wǎng) © 版權所有   京ICP備16069177號 | 京公網(wǎng)安備11010502021702
快速回復 返回頂部 返回列表
午夜高清国产拍精品福利|亚洲色精品88色婷婷七月丁香|91久久精品无码一区|99久久国语露脸精品|动漫卡通亚洲综合专区48页