不要將多個(gè)探頭同時(shí)連接到同一位置

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       我們知道，所有測量?jì)x器（包括示波器）都有其性能的限制，都會(huì )對測量結果帶來(lái)影響。我們要使用特定的探頭將示波器連接到電路上的行為會(huì )以特定的方式影響測量。探頭在測試點(diǎn)與待測電路并聯(lián)，通過(guò)施加額外的電阻和電容負載來(lái)影響電路。

       此外，由于帶寬、上升時(shí)間和共模響應的限制，探頭本身也限制了測量的準確度。因此，在進(jìn)行測量時(shí)，比較不同的探頭對測量的影響是不同的，但不要嘗試一次全部完成。

       如果同時(shí)將兩個(gè)或多個(gè)探頭連接到同一測試點(diǎn)，會(huì )發(fā)生什么情況？探頭之間會(huì )相互影響，改變彼此的響應。

       讓我們看一下兩種不同的探頭分別如何影響LED驅動(dòng)器中上側柵極驅動(dòng)器測量的情況。一種探頭是高壓光纖光隔離探頭（HVFO），另一個(gè)“探頭”是一個(gè)老式的差分放大器（DA），它使用一對匹配的高壓探頭來(lái)實(shí)現差分輸入。

       首先，分別使用每個(gè)探頭進(jìn)行測量，如下圖所示。

       用DA探頭進(jìn)行的測量顯示出更多異常，與HVFO探頭相比，大多數異�？蓺w因于較差的共模抑制比（CMRR）。這在正脈沖的上升沿之前的負脈沖中最為明顯，這發(fā)生在下側MOSFET狀態(tài)改變時(shí)，這是一個(gè)很快的dV/dT事件，會(huì )產(chǎn)生明顯的共模干擾。具有較高CMRR的HVFO探頭受到的影響較�。号cDA探頭相比，幅度小一半。在脈沖的基線(xiàn)和頂部，DA探頭測量的波形傾斜可能是由其探頭對的負載引起的。

       現在，讓我們看一下同時(shí)在電路中使用HVFO和DA探頭進(jìn)行測量的結果，如下圖所示。

       當兩個(gè)探頭同時(shí)連接時(shí)，它們會(huì )相互增加負載，從而導致其響應發(fā)生變化。請注意，當獨立進(jìn)行測量時(shí)，HVFO探頭的負尖峰幅度更小。DA探頭的額外負載降低了HVFO探頭的CMRR。此外，DA的電路負載改變了測試點(diǎn)的波形，而HVFO測量的波形也隨之改變。從本質(zhì)上講，DA的負載已與HVFO探頭結果耦合在一起。

       顯而易見(jiàn)的結論是，不應同時(shí)使用多個(gè)探頭連接到同一測試點(diǎn)進(jìn)行測量。如果要比較不同探頭的結果，最好的進(jìn)行方法是單獨測量，將采集的數據存儲到示波器存儲器中。然后，可以調出波形并將其與實(shí)時(shí)采集的波形或另一個(gè)存儲的波形進(jìn)行比較，而不會(huì )影響探頭的負載。

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