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作者: Michael Seaholm, 泰克科技公司高性能示波器產(chǎn)品經(jīng)理 自從PCIe 1.0規范以來(lái)，在不到20年里，業(yè)界已經(jīng)為迎接PCIe Gen 6.0規范作好準備。由于每一代新標準較上一代的數據速率都會(huì )翻一番，PCIe Gen 6.0的速度要比2003年問(wèn)世的最初PCIe Gen 1.0規范快25倍。數據速率每三年翻一番，給負責物理層性能的驗證工程師帶來(lái)了無(wú)盡的挑戰，包括PHY、芯片、插件和系統，因為當前市場(chǎng)上的測試設備并不能完全滿(mǎn)足所有這些器件的測試需求。 關(guān)鍵電氣驗證設備的性能不斷提高，比如示波器和誤碼率測試儀(BERT)，盡管可以解決絕大部分挑戰，但性能的提高也影響著(zhù)測試設置和設備使用的復雜程度，進(jìn)而提高了驗證團隊的測試和調試時(shí)間。測試設備的性能超過(guò)被驗證的標準性能，是一個(gè)自然進(jìn)化過(guò)程，但工程師面臨的某些挑戰并不是單純靠提高測試設備性能就能完全解決的。當前工程師需要工具來(lái)補充現有設備的性能，這些工具要提供更快的洞見(jiàn)能力，杰出的易用性，同時(shí)又不會(huì )明顯影響項目的資本預算。通過(guò)觀(guān)察行業(yè)大趨勢，我們可以看出每種需求都是真實(shí)存在的。 產(chǎn)品開(kāi)發(fā)周期挑戰：在PCIe測試中對加快洞見(jiàn)能力的需求 由于最新PCIe標準必須支持所有以前各代PCIe標準，所以對驗證團隊來(lái)說(shuō)，每一代新的PCIe標準的測試矩陣都會(huì )呈指數級增長(cháng)。再加上標準發(fā)展導致的測試復雜度增加，這明顯提高了實(shí)現最新PCIe標準所用的整體測試時(shí)間。而用戶(hù)預期這些團隊會(huì )以與前幾代類(lèi)似的產(chǎn)品開(kāi)發(fā)周期窗口推出新一代產(chǎn)品，則使形勢變得更加復雜。 評估鏈路性能和調試問(wèn)題要用更長(cháng)的時(shí)間，當前市場(chǎng)上的設備無(wú)法為工程師提供支撐，讓他們節省幾天或幾周的調試和性能評測時(shí)間，以滿(mǎn)足他們的時(shí)間表。工程師一直需要示波器和BERT這樣重點(diǎn)提升性能極限的高性能工具，但同時(shí)業(yè)界在工具袋里也需要一種新的工具�，F代工程師需要一種新的測試測量設備品類(lèi)，這種設備設置和使用起來(lái)要更簡(jiǎn)便，能夠加快洞見(jiàn)能力，可以在設計和驗證過(guò)程中支持更頻繁的測試，在開(kāi)發(fā)周期中更早地發(fā)現問(wèn)題。 預計勞動(dòng)力缺口：在PCIe測試中對簡(jiǎn)便易用性的需求 隨著(zhù)數字世界更深入地滲透到人們的日常生活中，對半導體和半導體器件的需求呈指數級態(tài)勢持續增長(cháng)。這種拋物線(xiàn)增長(cháng)最顯著(zhù)的結果，是在供應鏈和物流方面給行業(yè)帶來(lái)了明顯挑戰。業(yè)界很少提及但可能最嚴重的問(wèn)題，是預計支撐增長(cháng)的工程師隊伍會(huì )出現短缺。據2022年SemiCon West大會(huì )演示，到2030年，預計支撐半導體行業(yè)增長(cháng)所需的工程師缺口約為30萬(wàn)。之所以出現這樣的缺口，主要源于新畢業(yè)的大學(xué)生很少轉入這個(gè)行業(yè)，另外預計行業(yè)在未來(lái)多年內都會(huì )走弱。 預計這種勞動(dòng)力短缺將給業(yè)內的公司帶來(lái)明顯的并發(fā)癥，而且由于HSIO (高速I(mǎi)/O)器件開(kāi)發(fā)和驗證的技術(shù)特點(diǎn)，這個(gè)問(wèn)題解決起來(lái)并不容易。隨著(zhù)標準更新?lián)Q代，PCIe將變得越來(lái)越復雜。支撐器件開(kāi)發(fā)和驗證的人力缺口，預計將給業(yè)內的工程團隊的開(kāi)發(fā)時(shí)間表和測試工作流程帶來(lái)進(jìn)一步壓力。 為解決業(yè)內預計的人力缺口，各公司可能要比以前更寬泛地分配工程設計任務(wù)，這對測試設備提出了需求，測試設備要比現有解決方案設置和操作起來(lái)更簡(jiǎn)便。隨著(zhù)這種大趨勢顯現，越來(lái)越重要的一點(diǎn)是測試設備需要的培訓和操作經(jīng)驗必須更少，同時(shí)仍能有效洞見(jiàn)HSIO器件的健康狀況和性能。 重新審視資金支出：在PCIe測試中對優(yōu)化資本預算的需求 隨著(zhù)后續PCIe標準的數據速率提高，業(yè)內對更高性能的設備的需求也在提高。支持這一設備所需的帶寬在不斷增長(cháng)，這種性能增長(cháng)則使得整套測試設備的購買(mǎi)成本明顯提高。這些設備的成本之高，導致即使是大型公司通常也只會(huì )購買(mǎi)幾套完整系統。小型公司的壓力就更大了，他們通常買(mǎi)不起完整驗證測試所需的設備，必須租賃設備或利用第三方測試機構才能進(jìn)行驗證和調試。 由于性能對整個(gè)PCIe評估和一致性測試至關(guān)重要，因此各公司必須了解執行測試的重大設備成本，不管是選擇購買(mǎi)設備還是選擇租賃設備。雖然沒(méi)有辦法完全避免這個(gè)問(wèn)題，但能夠更早更快地有效洞見(jiàn)設計，而又不會(huì )給開(kāi)發(fā)方案帶來(lái)明顯資本預算壓力的設備，正日益成為受歡迎的解決方案。如果擁有的設備能夠提高測試設置數量，縮短整體測試時(shí)間，加快測試速度，而又不會(huì )給計劃預算帶來(lái)明顯壓力，那么工程團隊就可以在需要時(shí)有效使用更高性能的設備。 滿(mǎn)足市場(chǎng)需求：全新的PCIe測試測量解決方案現已上市 業(yè)內一直需要高性能驗證和一致性測試設備，但只有能夠加快洞見(jiàn)速度、簡(jiǎn)便易用、價(jià)格經(jīng)濟的設備，才能為當今PCIe測試工作流程中的現有工具提供關(guān)鍵的補充方案。泰克專(zhuān)注了解行業(yè)需求，評估大趨勢，與客戶(hù)持續溝通，開(kāi)發(fā)突破性的創(chuàng )新方案，解決實(shí)際問(wèn)題。泰克最新創(chuàng )新產(chǎn)品TMT4 裕度測試儀是市場(chǎng)上第一個(gè)，也是唯一把重點(diǎn)放在PCIe Gen 3和Gen 4測試速度和易用性，同時(shí)又考慮行業(yè)資本預算限制的解決方案。TMT4 裕度測試儀再次證明泰克不斷深入理解行業(yè)和客戶(hù)需求，持續開(kāi)發(fā)突破性產(chǎn)品。泰克致力重塑測試測量領(lǐng)域，解決客戶(hù)痛點(diǎn)，與時(shí)俱進(jìn)，改善客戶(hù)工作流程。 |
