泰克自動(dòng)化接收器測試方案,提升PCIe測試驗證精度與效率

發(fā)布時(shí)間:2025-2-20 17:49    發(fā)布者:eechina
關(guān)鍵詞: PCIe測試
作者:泰克科技

近二十年來(lái),PCI Express技術(shù)已成為廣泛采用的高速串行接口連接標準。最新的 PCIe規范滿(mǎn)足了數據密集型市場(chǎng)的需求,例如人工智能/機器學(xué)習和高性能計算。泰克PCIe 自動(dòng)化測試解決方案能夠處理設置和校準,顯著(zhù)降低了測試復雜性。與低噪音測量硬件相結合,可實(shí)現快速、準確且可重復的信號完整性測量。作為 PCI-SIG工作組的活躍投票成員,泰克擁有發(fā)射機、接收機、參考時(shí)鐘和鎖相環(huán) (PLL) 驗證所需的豐富專(zhuān)業(yè)知識。

泰克公司推出的PCI Express接收器測試套件,通過(guò)自動(dòng)化軟件和行業(yè)領(lǐng)先的測試設備,顯著(zhù)簡(jiǎn)化了接收器測試的復雜性,同時(shí)確保與最新行業(yè)標準的同步發(fā)展。該測試套件支持從PCIe Gen3到Gen6的多種速率和規范,適用于多種應用場(chǎng)景,包括系統級驗證、硅片測試和合規性評估。通過(guò)自動(dòng)化校準、鏈路訓練和抖動(dòng)容限測試等功能,泰克解決方案為工程師提供了高效、精確的測試工具,助力其在高性能計算和通信領(lǐng)域實(shí)現技術(shù)創(chuàng )新。

泰克PCI Express接收器測試套件支持廣泛的速率和規范,包括PCIe Gen6(64 GT/s)、Gen5(32 GT/s)、Gen4(16 GT/s)和Gen3(8 GT/s),覆蓋以下應用場(chǎng)景:
        PCI Express 64 GT/s、32 GT/s、16 GT/s和8 GT/s
        第6代/第5代/第4代/第3代基礎規范(硅驗證)和第5代/第4代/第3代CEM規范(系統驗證和合規性)
        Root Complex和非Root Complex硅片
        系統(主板和服務(wù)器)、插卡、交換機和橋接器、擴展設備(重定時(shí)器和重驅動(dòng)器)

Stressed Eye 校準

泰克PCI Express接收器測試套件通過(guò)其自動(dòng)化軟件和向導式用戶(hù)界面,為工程師提供了一種高效且精確的測試解決方案。該套件支持適用于Tektronix DPO70000SX系列實(shí)時(shí)示波器和Anritsu MP1900A BERT的接收器自動(dòng)化軟件,能夠引導用戶(hù)完成每一步校準和測試流程。其彈出式用戶(hù)提示進(jìn)一步簡(jiǎn)化了決策過(guò)程,同時(shí)支持最新的行業(yè)工具(如SigTest和Seasim);此外,該測試套件還提供詳細的校準和測試報告,幫助用戶(hù)快速獲取關(guān)鍵數據。

PCI Express Gen6(64 GT/s)
•        Stressed Eye 校準(64 GT/s):支持64 GT/s速率,包括交流/直流平衡、幅度、四抽頭發(fā)送器(Tx)均衡、正弦抖動(dòng)和隨機抖動(dòng)校準, 以及差分模式干擾(DMI)、共模干擾(CMI)、預設和CTLE選擇;
•        抖動(dòng)容限測試:通過(guò)Seasim統計仿真工具進(jìn)行插入損耗計算,支持自動(dòng)示波器噪聲補償。
PCI Express Gen5(32 GT/s)
•        Stressed Eye校準:支持32 GT/s速率,包括交流/直流平衡、幅度、四抽頭發(fā)送器(Tx)均衡、正弦抖動(dòng)和隨機抖動(dòng)校準,以及差分模式干擾(DMI)、共模干擾(CMI)、預設和CTLE選擇。
•        鏈路均衡測試:支持接收器和發(fā)送器鏈路均衡測試,提供高級調試模式。

由BERT的PPG(脈沖圖形發(fā)生器)生成的Stressed Eye信號的校準至關(guān)重要,確保接收器在符合PCI-SIG規范的情況下進(jìn)行測試,并施加適當的干擾。在64 GT/s速率下的新挑戰要求采用Tektronix PCI Express接收器測試套件的全自動(dòng)化方法,以避免其他繁瑣且容易出錯的方法。讓Tektronix工程師的領(lǐng)域專(zhuān)業(yè)知識和經(jīng)驗引導您完成校準步驟,從精確的TP3測量開(kāi)始,直至在允許公差范圍內輕松獲得TP2眼圖。工程師將花費更少的時(shí)間在校準上,更多的時(shí)間在收集接收器性能和裕量的有意義數據上。

TP3 校準

PCI Express 第6代(64 GT/s)和第5代(32 GT/s)

TP3(從BERT PPG到示波器的電纜后的點(diǎn))校準是所有設備的強制性步驟,以確保在定義的參考平面上滿(mǎn)足公差要求。Tektronix PCI Express接收器測試套件向導將引導用戶(hù)完成所有必要步驟,以確保前通道信號符合規范要求,從而確保未來(lái)的校準步驟順利完成。
1.        交流-直流平衡(AC-DC Balance) - 啟用少量的發(fā)送器均衡去強調,以在共同的參考平面上平衡模式的低頻和高頻部分。
2.        幅度(Amplitude) - 差分電壓擺幅需要在720 – 800 mV范圍內。
3.        發(fā)送器均衡預設(Tx Equalization Presets) - 校準預擊1、預擊2(僅第6代)和去強調,以確保在測試接收器時(shí)使用真實(shí)的預設電平。
4.        插入損耗測量(IL Measurement) - 使用Seasim在TP1和TP3之間計算通道插入損耗(在此處計算TP3參考點(diǎn)之前的損耗,以便稍后去除)。
5.        隨機抖動(dòng)(RJ) - RJ校準為0.25 ps [第6代],0.5 ps [第5代](均方根值)名義上。
6.        正弦抖動(dòng)(SJ) - SJ校準范圍為1-3 ps [第6代] / 1-5 ps [第5代](峰峰值),頻率為100 MHz。
7.        SJ@210 MHz - 此校準對于某些校準中的JTOL(抖動(dòng)容忍度)測量是必需的。
8.        多音正弦抖動(dòng)(Multi-tone SJ) - 對于JTOL測量,最多使用14個(gè)頻率的校準,100 MHz以外的頻率也需要進(jìn)行校準。

自動(dòng)表征和精確校準預設、RJ和SJ以及用于校準的重要參數,如模式類(lèi)型、示波器、BERT設置、回歸線(xiàn)斜率和截距等。

鏈路訓練

在接收器測試之前,需要將被測設備(DUT)置于環(huán)回模式,在該模式下,接收器鎖存器處數字化的信號被對應的發(fā)送器重新傳輸,使可能的比特或突發(fā)錯誤可見(jiàn)。進(jìn)入環(huán)回測試模式需要在誤碼率測試儀(BERT)和DUT之間通過(guò)鏈路訓練狀態(tài)機(LTSSM)進(jìn)行復雜的通信。Tektronix PCI Express接收器測試套件自動(dòng)化了這個(gè)過(guò)程,允許通過(guò)配置(短路徑)和恢復(完整訓練鏈路Tx和Rx)的環(huán)回,用于不同級別的接收器測試。暴露相關(guān)參數,使用戶(hù)在不增加不必要復雜性的情況下控制該過(guò)程。


鏈路訓練配置

接收器和發(fā)送器鏈路均衡測試

在32 GT/s、16 GT/s和8 GT/s速率下,PCI Express合規性測試需要執行接收器鏈路均衡測試(在完整鏈路訓練后使用Stressed信號檢查模擬接收器性能)和發(fā)送器鏈路均衡測試(確保在接收器對其鏈路伙伴發(fā)出Tx變化請求時(shí)達到關(guān)鍵的數字定時(shí)限制)。

Tektronix PCI Express接收器測試套件在這些必需測試期間控制BERT和實(shí)時(shí)示波器,以提供高效的測試結果,同時(shí)僅在必要時(shí)提供控制。

高級調試模式為L(cháng)EQ測試提供了額外的故障排除能力,允許定制應力源、Tx預設、自定義模式、自動(dòng)搜索CTLE和時(shí)鐘數據恢復(CDR)調諧。


Tx LEQ測試配置,Rx LEQ測試配置

測試軟件可以通過(guò)SCPI命令遠程操作,允許與自定義測試流程的無(wú)縫集成。

抖動(dòng)容限(JTOL)測試
抖動(dòng)容限(JTOL)測試需要掃描多個(gè)校準的正弦抖動(dòng)(SJ)音,從低幅度到高幅度,以觀(guān)察被測接收器的時(shí)鐘數據恢復(CDR)如何跟蹤這些壓力(通常是在其他噪聲和抖動(dòng)源的存在下)。在測試過(guò)程中,可以配置自定義的JTOL通過(guò)/失敗掩碼,并使用不同的搜索算法(向上線(xiàn)性、對數等)。Tektronix PCI Express接收器測試套件允許工程師以最少的設置快速獲得詳細的測試報告。


JTOL測試配置設置

在JTOL測試中,提供了自定義掩碼和規范掩碼,以更好地理解DUT性能,特別是在設計階段。接收器解決方案執行自動(dòng)反向通道均衡和采樣點(diǎn)優(yōu)化,以確保DUT傳輸的數據流在誤碼率測試儀接收器處被準確理解,從而正確確定誤碼率(BER)性能。


JTOL測試結果與規范

PCIe PLL帶寬和峰值測試

該測試驗證了插卡(AIC)發(fā)送器(Tx)鎖相環(huán)(PLL)是否具有正確的帶寬和峰值。為DUT提供100 MHz參考時(shí)鐘,并施加校準的正弦抖動(dòng)(SJ),可以測量在特定SJ音調下通過(guò)DUT的Tx PLL的SJ量。通過(guò)多個(gè)音調執行此過(guò)程,可以構建PLL頻率響應以測量帶寬和峰值。

泰克PCI Express接收器測試套件為第6/5/4/3代設備提供了全面的正弦抖動(dòng)(SJ)幅度校準功能。該功能通過(guò)調制100 MHz參考時(shí)鐘來(lái)校準DUT(被測設備)的Tx PLL,支持可調節的SJ幅度和用戶(hù)自定義的頻率選擇,確保在PLL的峰值和3dB點(diǎn)具有足夠的分辨率。此外,測試套件還支持增加平均值(建議使用5次平均)以最小化測量變動(dòng),同時(shí)配備軟件CTLE(連續時(shí)間線(xiàn)性均衡器),以支持高損耗通道和多種DUT Tx模式。

泰克測試套件還提供了精確的PLL帶寬和峰值測量功能,能夠根據選定的數據速率報告PLL的帶寬和峰值性能。DUT Tx可以在合規模式和抖動(dòng)測量模式之間切換,以滿(mǎn)足不同的測試需求。測試套件采用一致的DSP算法進(jìn)行SJ校準和DUT測試,確保測量結果的準確性和一致性。最終,測試報告將包含PLL帶寬、峰值、頻率響應圖以及各個(gè)測量值的詳細信息,為工程師提供全面的測試數據支持。


PLL帶寬測試以及測試結果

了解泰克PCIe測試解決方案更多資料,https://www.tek.com.cn/solutions ... -communication/pcie。

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