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作為功率半導體廠(chǎng)商，為下游客戶(hù)提供典型應用方案似乎成行業(yè)內約定俗成的事。也就是說(shuō)，作為半導體原廠(chǎng)不僅要設計好芯片，還要親自設計和驗證很多應用方案供下游客戶(hù)參考或者直接采用，以便讓自己的芯片能快速通過(guò)下游客戶(hù)的應用而占領(lǐng)市場(chǎng)。但是下游客戶(hù)面臨的應用場(chǎng)景復雜多樣，盡管芯片原廠(chǎng)提供了應用方案的原理圖、甚至是PCB參考設計，在下游客戶(hù)手中仍然會(huì )遇到各種各樣的技術(shù)難題而導致項目停滯不前。 每當這個(gè)時(shí)候，下游客戶(hù)希望通過(guò)原廠(chǎng)FAE盡快找到解決方案，或者將遇到技術(shù)挫折歸咎為芯片本身設計問(wèn)題，盡管不排除芯片可能存在不適用的領(lǐng)域，但是大部分時(shí)候是應用層面的問(wèn)題，和芯片沒(méi)有關(guān)系。這種情況對新興的第三代半導體氮化鎵（GaN）原廠(chǎng)來(lái)說(shuō)尤為常見(jiàn)，其根本原因是氮化鎵芯片的優(yōu)異開(kāi)關(guān)性能所引起的測試難題，下游的氮化鎵應用工程師往往束手無(wú)策。 某知名氮化鎵品牌的下游客戶(hù)，用氮化鎵半橋方案作為3C消費類(lèi)產(chǎn)品的電源，因電源穩定性一直存在問(wèn)題，導致其產(chǎn)品研制受阻；工程師尋求原廠(chǎng)FAE技術(shù)支持，因測試結果的數據與理論數據相差懸殊，原廠(chǎng)FAE懷疑客戶(hù)的測試手段可能存在問(wèn)題，建議客戶(hù)采用麥科信公司的OIP系列光隔離探頭進(jìn)行測試，讓客戶(hù)測試后再進(jìn)行下一步溝通。作為光隔離探頭的提供方，麥科信工程師對測試過(guò)程提供了技術(shù)支持。 測試背景：3C消費類(lèi)產(chǎn)品，其電源采用氮化鎵（GaN）半橋方案。 測試目的：氮化鎵半橋上下管的Vgs及Vds，分析控制信號的時(shí)間及電壓是否滿(mǎn)足設計要求。 測試設備：示波器TO3004，光隔離探頭OIP200B，高壓差分探頭及無(wú)源探頭。 測試結果如下： 
▲上管開(kāi)啟（黃色光隔離探頭），下管關(guān)斷（藍色無(wú)源探頭）
▲上管關(guān)斷（黃色光隔離探頭），下管開(kāi)啟（藍色差分探頭）
▲上管導通Vgs信號波形（光隔離探頭）
▲上管關(guān)斷Vgs信號波形（光隔離探頭） 從以上測試結果看，在開(kāi)關(guān)導通和關(guān)斷的瞬間，盡管無(wú)源探頭測試的是下管信號，仍然有劇烈的震蕩，這是無(wú)源探頭不能抑制共模干擾導致的，而OIP光隔離探頭完全抑制了共模干擾，把真實(shí)的信號形態(tài)進(jìn)行了呈現。 現場(chǎng)測試照片如下：
▲測試目標和接線(xiàn)
▲示波器波形畫(huà)面 后記 該客戶(hù)將示波器截圖發(fā)給氮化鎵原廠(chǎng)FAE，FAE很直觀(guān)就發(fā)現了電路問(wèn)題所在。該客戶(hù)對電源電路進(jìn)行了調整，最終解決了所有的問(wèn)題。這個(gè)案例對氮化鎵原廠(chǎng)FAE來(lái)說(shuō)不算典型，幾乎是每天都要面對的情形，因為下游客戶(hù)測試設備所限，很難真正發(fā)現氮化鎵電路所存在的問(wèn)題。常言道“工欲善其事，必先利其器”，借助麥科信OIP系列光隔離探頭可以讓工程師洞見(jiàn)最真實(shí)的信號特征，很快找到問(wèn)題所在，大大減少原廠(chǎng)FAE和下游客戶(hù)之間溝通的時(shí)間成本。 |
