芯片ate測試之導通電阻測試過(guò)程與方法 -納米軟件

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　　導通電阻即導線(xiàn)通電后的電阻值，導通電阻測試的目的是為了檢測導線(xiàn)或連線(xiàn)情況是否正常。其中芯片引腳導通性測試是一個(gè)重要步驟，用于驗證和檢測芯片引腳之間的連接是否正確，以確保芯片的正常工作。

　　如何測試芯片引腳導通性？
　　芯片引腳導通性測試的目的是檢測芯片引腳之間的電氣連通是否良好，測試可以幫助工程師們確定芯片是否正常，以及在產(chǎn)品中使用期間是否會(huì )出現連接問(wèn)題
　　首先，在進(jìn)行芯片引腳導通性測試之前，工程師們需要準備好測試所需的設備和工具。有測試臺柜、測試儀器、測試座、測試夾具治具、測試程序等。在選擇測試設備和工具時(shí)，需要考慮測試的精度和穩定性，以確保測試結果的可靠性。同時(shí)，還需要根據芯片的設計特點(diǎn)和測試要求來(lái)確定適合的測試方法和策略。
　　其次，芯片引腳導通性測試的過(guò)程需要根據具體的芯片設計和連接結構來(lái)確定，這些測試步驟包括引腳電壓測試、引腳電流測試、引腳開(kāi)關(guān)測試等。
　　在進(jìn)行引腳電壓測試時(shí)，測試儀器會(huì )通過(guò)接觸引腳并施加一定的電壓，然后檢測是否有電流通過(guò)引腳。如果有電流通過(guò)，則說(shuō)明引腳連通正常;如果沒(méi)有電流通過(guò)，則說(shuō)明引腳存在連接問(wèn)題。引腳電壓測試可以幫助工程師們了解芯片內部各個(gè)模塊的工作狀態(tài)。引腳電阻測試是用來(lái)檢測芯片引腳之間的電阻情況。
　　最后，測試儀器會(huì )通過(guò)接觸引腳并施加一定的電流，然后測量引腳電壓，通過(guò)測量電壓降和電流值，根據歐姆定律，可以計算出引腳之間的電阻大小。引腳電阻測試可以幫助工程師們確定引腳連接是否存在異常。

　　如何使用納米軟件芯片測試系統進(jìn)行導通電阻測試?
　　使用ATECLOUD進(jìn)行芯片導通電阻測試的步驟如下：
　　連接測試設備，登錄ATECLOUD智能云測試平臺。
　　創(chuàng )建測試項目，項目名稱(chēng)為導通電阻測量。
　　在右側添加本次測試需要用到的測試儀器數字萬(wàn)用表，電子負載，可編程直流電源，并對其型號進(jìn)行配置。ATECLOUD平臺支持市場(chǎng)主流品牌商儀器，支持20+儀器種類(lèi)，支持2000+儀器型號，用戶(hù)可直接在儀器庫進(jìn)行儀器名稱(chēng)的搜索即可添加。
　　搭建測試工步，ATECLOUD云測試平臺采用圖標拖拽測試流程代替編程語(yǔ)言，讓用戶(hù)可以快速上手，快速進(jìn)行測試工步的搭建工作。
　　啟動(dòng)測試，輸入產(chǎn)品編號后，啟動(dòng)測試，即可看到隨時(shí)間變化數字萬(wàn)用表與電子負載自動(dòng)測量電壓值與電流值，系統自動(dòng)根據歐姆定律計算出電阻值，通過(guò)數據洞察功能，數值模式可自由切換圖表模式，即可實(shí)時(shí)顯示電阻值的曲線(xiàn)圖。
　　導出測試報告，測試報告靈活定義，可實(shí)現報告自動(dòng)取數，報告自動(dòng)生成。在測試報告需要重新設計時(shí)，可快速自定義修改，脫離對開(kāi)發(fā)的依賴(lài)，提高效率，降低成本!
　　關(guān)于納米軟件
　　納米軟件是一家智能測試及測試大數據分析的高科技公司，幫助客戶(hù)解決生產(chǎn)及研發(fā)中智能測試的需求，專(zhuān)注于儀器自動(dòng)化測試軟件開(kāi)發(fā)和智能測試大數據分析，通過(guò)測試云技術(shù)，邊緣計算和云計算，實(shí)現生產(chǎn)制造企業(yè)測試數據采集及智能分析、故障預測與診斷、維護決策與優(yōu)化等大數據應用服務(wù)整體解決方案，幫助企業(yè)實(shí)現智能化改造。