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在半導體、汽車(chē)、醫療等高端制造行業(yè)，源表通常被用于半導體材料或精密器件的電性能特性測試和生產(chǎn)測試應用，以及中低電平測試和實(shí)驗室研究使用。源表采用四象限工作模式，可以在提供精密電壓、電流源的同時(shí)，又能夠作為電壓、電流、電子負載使用，集“源”和“表”的功能于一體。 源表，又叫做SMU(Source Measure Unit)源測量單元，1989年出生，如今已過(guò)而立之年，以不可更改的姿態(tài)走過(guò)了一段崢嶸歲月。 Stage 1:進(jìn)口源表稱(chēng)霸江湖二十載 1989年，第一臺進(jìn)口數字源表（SMU）誕生。在此后的二十多年時(shí)間里，市場(chǎng)被其壟斷，占有率達到80%。受限于高端測試裝備的基礎研究不足，以及缺乏先進(jìn)工藝等因素，多年時(shí)間內，國內沒(méi)有一家企業(yè)能實(shí)現源表的自主研發(fā)。 九十年代中期，國內開(kāi)始引進(jìn)進(jìn)口的數字源表。在國內的研究中，數字源表主要被用于特定材料和精密器件的實(shí)驗和測試環(huán)境搭建。但由于進(jìn)口源表價(jià)格昂貴，且供貨周期長(cháng)，中小企業(yè)不堪重負，在電子課程教學(xué)和實(shí)驗室中也未能廣泛應用。 而電性能特性又是表征半導體材料和精密器件性能的重要指標，隨著(zhù)半導體等高科技行業(yè)的勃發(fā)，高端檢測設備在產(chǎn)業(yè)鏈上呈現出巨大的需求。 Stage 2:加速替代“舶來(lái)品”，國產(chǎn)化源表躋身市場(chǎng) 2015年，面對國內市場(chǎng)的迫切需求，武漢普賽斯儀表有限公司率先開(kāi)始對源表進(jìn)行研究開(kāi)發(fā)。對其工作框架的邏輯關(guān)系、主要功能電路、主要算法都進(jìn)行了系列研究，依托領(lǐng)先的光學(xué)與光電技術(shù)、微弱信號處理與抗干擾技術(shù)、高速數字信號處理、核心算法與系統集成等技術(shù)平臺優(yōu)勢，普賽斯成為國內率先自主推出數字源表的企業(yè)。 自此，國產(chǎn)化源表打破了國外的技術(shù)壁壘，實(shí)現進(jìn)口替代。且價(jià)格優(yōu)勢明顯，服務(wù)響應迅速，得到國內通信巨頭的認證。 時(shí)隔八年，國產(chǎn)化數字源表的發(fā)展雖然較為緩慢，但得益于巨大的市場(chǎng)需求驅動(dòng)，眾多高端儀器設備廠(chǎng)家紛紛入局，國產(chǎn)化源表呈現“百花齊放”的態(tài)勢。 Stage 3:八年磨一劍，是開(kāi)路人也是攀登者 國產(chǎn)化源表的研究開(kāi)發(fā)先后經(jīng)歷了引進(jìn)、發(fā)展、創(chuàng )新三個(gè)階段。起初，由于國內對于數字源表的研究還處于剛起步階段，市場(chǎng)上的國產(chǎn)化源表雖然在功能上實(shí)現源、測的功能，但是在整體性能和進(jìn)口源表還有一定的差距，例如測量精度、測量速度以及長(cháng)期穩定性等。 普賽斯儀表深耕半導體電性能測試領(lǐng)域。八年磨一劍！核心產(chǎn)品數字源表的功能不斷升級完善，于2023年初推出SXXB系列高精度數字源表，操作更加智能和便捷，測量精度進(jìn)一步提高至±0.03%，最大直流電流升級至3A，以適用于更復雜和精密的測量環(huán)境。 此外，基于核心的數字源表，普賽斯儀表攻克一個(gè)又一個(gè)技術(shù)難關(guān)，橫向拓展了脈沖式源表、窄脈沖電流源、集成插卡式源表、高精度的超大電流源、高精度高壓電源、數據采集卡等一站式國產(chǎn)化電性能測試儀表，實(shí)現了半導體全產(chǎn)業(yè)鏈的測試需求覆蓋。 數字源表的優(yōu)勢： 性能強大-作為電壓源和或電流源，并同步測量電流和或電壓，支持四象限工作�？梢韵薅妷夯螂娏鬏敵龃笮�，預防器件損壞。覆蓋3pA-3A的電流范圍100μV-300V的電壓范圍，全量程測量精度0.03%。 靈活多樣-支持兩線(xiàn)制和四線(xiàn)制測量，更準確的低內阻量測;集成線(xiàn)性階梯掃描、對數階梯掃描、自定義掃描等模式;專(zhuān)業(yè)l-V特性及半導體參數測試軟件。易學(xué)實(shí)用-簡(jiǎn)化了如I-V和l-t/V-t曲線(xiàn)等各種應用的測量準備工作。電容式觸摸屏圖形用戶(hù)界面(GUI),提供圖形化和數字化兩種測量結果顯示模式，便于使用和查看。 提供的應用程 - 序列掃描 - 自定義序列 - 數據記錄儀：持續輸出恒壓源測試模式；持續輸出恒流源測試模式 - APD管 - 晶體管：MOSFET管測試；三極管測試 - LIV：PIN管掃描測試 - Gummer：雙臺源表使用同樣參數進(jìn)行掃描 |
