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泰克公司日前宣布，TLA7SA08 和 TLA7SA16 邏輯協(xié)議分析儀模塊新增了軟件功能，支持下一代PCIe規范，即PCI Express 3.0規范。新的功能包括創(chuàng )新的鳥(niǎo)瞰圖（BEV），幫助工程師洞察和分析復雜的流控制問(wèn)題，并且只需一鍵式校準和自動(dòng)配置，從而使PCIe系統調試和分析變得更迅速，更容易。 PCIe 3.0規范支持兩倍于上代規范的數據率和更高的I/O帶寬，給物理層和協(xié)議層帶來(lái)了新的復雜性和測試挑戰。而且，PCIe適用于廣泛的應用，這給測試儀器跟蹤動(dòng)態(tài)鏈路寬度變化、動(dòng)態(tài)速度變化、通道（lane）排序、極性變化和多個(gè)省電模式等特征帶來(lái)了壓力。憑借這些新功能，泰克邏輯協(xié)議分析儀有助于工程師與PCIe 3.0規范保持與時(shí)俱進(jìn)，并高效地將產(chǎn)品推向市場(chǎng)。 泰克公司數字分析產(chǎn)品線(xiàn)總監Dave Farrell表示：“新版本的PCIe邏輯協(xié)議分析儀軟件，向客戶(hù)提供了市場(chǎng)上獨有的強大工具來(lái)隔離和調試PCIe流控制問(wèn)題，并加快可執行信息的存取速度。泰克邏輯協(xié)議分析儀為調試和驗證工程師提供了智能的分析功能�！� 新功能包括： • 鳥(niǎo)瞰圖（BEV）提供全新的信息可視化方式，以便快速分析PCI Express流控制問(wèn)題，這些問(wèn)題可能是最具挑戰性的一些調試問(wèn)題。在這之前，協(xié)議工具只能提供已解碼分組數據的視圖。事務(wù)窗口（Transaction Window）是泰克邏輯協(xié)議分析儀上的一個(gè)創(chuàng )新窗口，提供數據包和事務(wù)層面（間或有物理層活動(dòng)）的協(xié)議行為視圖。鳥(niǎo)瞰圖是泰克公司的一個(gè)創(chuàng )新，其完全集成于事務(wù)窗口之內，提供整個(gè)采集的高級視圖。當在鳥(niǎo)瞰圖窗口中看到潛在問(wèn)題時(shí)，用戶(hù)可使用鳥(niǎo)瞰圖快速導航至可疑數據，并通過(guò)查看事務(wù)窗口中的對應數據，立即識別和隔離導致問(wèn)題的根本事件。這項全新的分析功能在業(yè)內沒(méi)有競爭對手可以與之相比。 • 一鍵式校準結合使用邏輯協(xié)議分析儀的采集硬件和觸發(fā)功能來(lái)全面測試數以百計甚至數以千計可能的儀器設置，來(lái)自動(dòng)確定最佳設置，確保儀器采集數據時(shí)沒(méi)有比特錯誤。 • PCIe“個(gè)性化”（Personalization）功能有助于用戶(hù)縮短設置時(shí)間并迅速開(kāi)始調試他們的設計。該軟件會(huì )自動(dòng)檢測TLA7SAxx模塊，并彈出PCI Express協(xié)議分析儀設置屏幕，并開(kāi)始“自動(dòng)配置”過(guò)程。配置完成后，用戶(hù)即可開(kāi)始采集數據和查看“列表”和“事務(wù)”窗口（在采集期間自動(dòng)打開(kāi)）中的信息。PCIe“個(gè)性化”可確保軟件在正確的時(shí)間顯示正確的信息，以便在建立測試系統的數分鐘內快速實(shí)現采集數據的可視化。 • 自動(dòng)配置功能根據PCIe鏈路特征自動(dòng)配置邏輯協(xié)議分析儀的工作參數，如鏈路速度、通道排序和通道極性。設置窗口與校準細節表相結合，以近實(shí)時(shí)方式提供有關(guān)被測系統工作條件的關(guān)鍵指標，這些信息可在單一、易于使用的屏幕中查看，甚至在完成采集之前。 Visual Network Systems的主管工程師William Winston提前使用了這個(gè)新解決方案來(lái)協(xié)助他應對系統調試挑戰：“我能非常迅速地將我的系統連接至泰克邏輯協(xié)議分析儀，并開(kāi)始進(jìn)行有意義的測試。在較短的時(shí)間內，我就能夠識別我的系統中的問(wèn)題，而且更重要的是能夠排除其他潛在問(wèn)題�！� 推出于2010年4月，并獲得2011年《測試與測量世界》“最佳測試產(chǎn)品獎”（Best in Test Award）的TLA7SAxx模塊為PCI Express 1.0/2.0/3.0規范提供了全面的測試解決方案。有了這些新特點(diǎn)，用戶(hù)現在能夠使用TLA7SAxx模塊上的增強型PCIe調試和驗證功能。該解決方案包括8或16通道邏輯協(xié)議分析儀模塊、總線(xiàn)支持軟件、插槽界接探測器（Slot Interposer）、Midbus 探頭以及專(zhuān)用solder-down探頭，為PCIe開(kāi)發(fā)者提供關(guān)于系統行為的強大時(shí)間相關(guān)視圖，從協(xié)議分析開(kāi)始一直到物理層，以幫助查找棘手問(wèn)題的根本原因。 上市時(shí)間 TLA7SA08和TLA7SA16邏輯協(xié)議分析儀模塊及支持軟件現已面向全球發(fā)售。 |
