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在半導體材料和器件的研究中，電性能測試是必不可少的環(huán)節。隨著(zhù)半導體技術(shù)的提升，微電子工藝逐漸復雜，如何對微電子材料器件進(jìn)行高效率測試成為業(yè)內關(guān)注的重點(diǎn)。普賽斯儀表陸續推出多型號國產(chǎn)化數字源表SMU，為進(jìn)一步打通測試融合壁壘，打造閉環(huán)解決方案，通過(guò)對半導體高端測試裝備上下游產(chǎn)業(yè)鏈的垂直整合，晶圓級微電子材料器件測試系統應運而生! 更高效:靈活測試：普賽斯數字源表SMU是整個(gè)測試系統的核心部分，用戶(hù)可以根據材料器件不同的電流、電壓，配置不同規格參數的源表和探針臺。 體積小巧，節省實(shí)驗臺空間 接線(xiàn)簡(jiǎn)單，無(wú)需繁雜的同步觸發(fā)操作 適應多種測量模式，如四探針、三同軸等 更可靠:廣泛應用：
利用普賽斯這套國產(chǎn)化高精度數字源表+探針臺的測試系統，可以為您完成任何晶圓、芯片、微小電子器件的測試。 
目前，普賽斯已擁有涵蓋直流源表、脈沖源表、窄脈沖源、大電流脈沖源、高電流源、高電壓源、大功率激光器測試電源、插卡式源表、數據采集卡、脈沖恒壓源等完整的國產(chǎn)化數字源表解決方案，可為不同領(lǐng)域、不同需求的用戶(hù)提供全方位的測試支持，打造高效、靈活的微電子材料器件測試系統! |
