筑波科技 第三代半導體材料與測試技術(shù)研討會(huì )

發(fā)布時(shí)間:2024-4-11 20:17    發(fā)布者:eechina
關(guān)鍵詞: 第三代半導體 , 氮化鎵 , 筑波 , Teradyne
在電動(dòng)車(chē)與新能源市場(chǎng)需求下,第三代半導體材料如碳化硅 (SiC) 和氮化鎵 (GaN) 具高頻率、耐高壓、優(yōu)異的散熱性能和高效能轉換,成為車(chē)用半導體、電源管理IC的關(guān)鍵技術(shù)。新型半導體材料如氧化鎵 (Ga2O3)、石墨烯等,具特殊電子性能,有望在未來(lái)電子器件發(fā)揮作用。在晶圓制造、檢測分析如:材料分析 (MA)、故障分析 (FA) 及車(chē)用半導體測試,有效掌握從研發(fā)到量產(chǎn)的制程。



面對高效能運算和AI趨勢,先進(jìn)封裝包括 3DIC 及硅光子技術(shù),可提高頻寬互連能力。硅光子在高速通信和資料傳輸中具替代傳統電子元件潛力,帶來(lái)高效能、低耗能的資料處理,提高系統整合密度和效率。

筑波科技與美商 Teradyne 合作推廣 ETS 解決功率器件和功率模塊測試,并利用太赫茲及拉曼檢測分析技術(shù),應對非破壞性 Wafer 材料測試、3DIC 高階封裝的測試挑戰。誠摯邀請業(yè)界先進(jìn)至報名網(wǎng)站注冊蒞臨參與。

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