ATECLOUD測試系統功能介紹之儀器兼容性

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　　隨著(zhù)科技的迅速發(fā)展，在電源模塊、電源芯片、射頻組件等自動(dòng)化測試過(guò)程中，需要測試系統不僅兼容示波器、萬(wàn)用表、矢量網(wǎng)絡(luò )分析儀等標準儀器，而且還要與一些非標設備對接。為了提高測試效率，減少成本，一款能夠兼容多種儀器的測試系統顯得尤為重要。

　　ATECLOUD測試平臺以用戶(hù)測試需求為核心，致力于解決測試難題。其突出的特點(diǎn)之一就是強大的儀器兼容性。技術(shù)團隊會(huì )對收集到的儀器指令進(jìn)行驗證，無(wú)誤后再在系統中兼容開(kāi)發(fā)。目前測試系統已兼容2000+儀器，實(shí)現了儀器自由選型，有效解決了儀器兼容性問(wèn)題。除了示波器、萬(wàn)用表等常用的測試儀器之外，ATECLOUD還可以實(shí)現與非標設備的快速對接，輕松完成測試，比如：

　　1. 與探針臺快速對接
　　在與北京某信息科技有限公司合作的晶圓芯片測試過(guò)程中，需要用探針臺和矢量網(wǎng)絡(luò )分析儀來(lái)檢測晶圓上芯片的S參數。因此，測試系統不僅要兼容矢量網(wǎng)絡(luò )分析儀，采集網(wǎng)分的數據，而且還實(shí)現了與探針臺的互通，獲取探針臺的狀態(tài)，并且會(huì )給探針臺進(jìn)行信息反饋。通過(guò)測試系統、網(wǎng)分與探針臺之間的通訊，完成晶圓芯片的自動(dòng)化測試。

　　2. 與萬(wàn)用表切換工裝通訊
　　當需要測試產(chǎn)品的多路電壓和電流時(shí)，由于測試點(diǎn)位多，一個(gè)萬(wàn)用表無(wú)法完成多點(diǎn)位自動(dòng)化測試，而用多個(gè)萬(wàn)用表會(huì )增加成本。因此，使用萬(wàn)用表切換裝置是理想選擇。將繼電器集成到切換裝置機箱內，通過(guò)通訊線(xiàn)將切換裝置與ATE-BOX（邊緣計算設備）連接進(jìn)行程控，實(shí)現多點(diǎn)位自動(dòng)化測試。

　　除此之外，ATECLOUD測試平臺的兼容性還體現在能夠支持儀器替換，實(shí)現儀器復用，減少測試成本。更多ATECLOUD功能，可了解：https://www.namisoft.com/Atecloud.html