0代碼開(kāi)發(fā)平臺ATECLOUD為用戶(hù)自動(dòng)化測試帶來(lái)新體驗

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　　在自動(dòng)化浪潮的推動(dòng)下，電測行業(yè)正經(jīng)歷著(zhù)一場(chǎng)技術(shù)革新。納米軟件推出了ATECLOUD智能測試平臺，以其0代碼開(kāi)發(fā)的特點(diǎn)，推動(dòng)了電測行業(yè)的發(fā)展。

　　ATECLOUD智能測試平臺
　　納米軟件在電測行業(yè)深耕16年，始終以客戶(hù)為中心，在多年項目經(jīng)驗累積下開(kāi)發(fā)出ATECLOUD測試平臺，為混合集成電路測試提供軟硬件一體化解決方案，打破傳統測試系統信息零散、數據孤島、無(wú)法靈活變更的限制，真正做到任何時(shí)間、任何地點(diǎn)都可以完成自動(dòng)化測試，為電測行業(yè)的發(fā)展貢獻一份力量。
　　目前，ATECLOUD專(zhuān)注于為電源模塊、電源管理芯片和射頻組件測試提供自動(dòng)化測試方案。同時(shí)，也支持定制開(kāi)發(fā)，如電機驅動(dòng)測試、元器件測試等，滿(mǎn)足客戶(hù)多樣化的測試需求。

　　0代碼開(kāi)發(fā)平臺：便捷、高效
　　區別于傳統測試系統，ATECLOUD的特點(diǎn)之一就是0代碼開(kāi)發(fā)。顧名思義，在使用過(guò)程中，用戶(hù)無(wú)需編寫(xiě)復雜代碼，只需通過(guò)拖、拉、拽、點(diǎn)擊等基礎電腦操作便可快速完成被測產(chǎn)品的測試、數據分析、報告導出等測試流程，讓測試變的更加簡(jiǎn)單、便捷。

• 拖拽式項目搭建，便捷迅速
  

　　傳統測試系統對人員的專(zhuān)業(yè)度要求高，不僅要了解業(yè)務(wù)流程，還需要熟練代碼編寫(xiě)，這無(wú)疑增加了企業(yè)成本，而且可能需要長(cháng)時(shí)間來(lái)搭建測試項目，降低測試效率。
　　ATECLOUD采取無(wú)代碼模式，建立儀器標準指令以及各種節點(diǎn)，用戶(hù)只需拖拽儀器指令以及相應節點(diǎn)，15分鐘即可迅速搭建測試項目。這種方式不僅操作簡(jiǎn)單，而且對人員要求低，只需了解業(yè)務(wù)流程即可。

• 方便系統維護，快速查找問(wèn)題
  

　　如果在系統使用中遇到問(wèn)題，代碼開(kāi)發(fā)的測試系統可能難以快速定位問(wèn)題;尤其是遇到人員變動(dòng)的情況，由于對之前的代碼不了解，系統維護更是難上加難，從而影響測試效率和生產(chǎn)進(jìn)度。
　　ATECLOUD平臺支持測試項目流程圖的可視化，業(yè)務(wù)流程以及測試參數都可追溯，因此可以迅速發(fā)現問(wèn)題，判斷測試流程是否有誤，參數、閾值設置等是否有問(wèn)題，從而提高解決問(wèn)題的效率。

• 靈活調整，滿(mǎn)足測試需求
  

　　隨著(zhù)技術(shù)的發(fā)展與產(chǎn)品的升級迭代，在測試項目或者業(yè)務(wù)流程發(fā)生變化時(shí)，代碼開(kāi)發(fā)的測試系統需要通過(guò)復雜編程來(lái)調整，甚至一些特定需求可能無(wú)法通過(guò)代碼實(shí)現，需要額外開(kāi)發(fā)系統，無(wú)法靈活適應產(chǎn)品的變更。
　　而在A(yíng)TECLOUD平臺中，簡(jiǎn)單拖拽點(diǎn)擊便可快速新增測試項目，無(wú)需代碼。測試項目工步搭建會(huì )對用戶(hù)開(kāi)放，可以隨時(shí)修改閾值、參數、流程等，靈活調整項目。

　　總之，0代碼開(kāi)發(fā)模式為ATECLOUD的使用帶來(lái)了便利，同時(shí)也為用戶(hù)提供了便捷高效的服務(wù)，提高了測試工作的效率，為企業(yè)自動(dòng)化測試轉型賦能。平臺更多詳情可直接訪(fǎng)問(wèn)：https://www.namisoft.com/Atecloud.html