晶體(Crystal Unit)的規格和特性

發(fā)布時(shí)間:2024-5-10 18:18    發(fā)布者:yxcyangxing
晶體的重要的電氣參數包括諧振頻率、諧振模式、負載電容、等效電阻、靜態(tài)電容、動(dòng)態(tài)電感和電容、工作溫度和驅動(dòng)功率。

石英晶片所以能做振蕩電路(諧振)是基于它的壓電效應,從物理學(xué)中知道,若在晶片的兩個(gè)極板間加一電場(chǎng),會(huì )使晶體產(chǎn)生機械變形;反之,若在極板間施加機械力,對應的方向上產(chǎn)生電場(chǎng),這種現象稱(chēng)為壓電效應。這些規格包括諧振頻率、諧振模式、負載電容、串聯(lián)電阻、保持電容、運動(dòng)電感和電容、溫度校準和驅動(dòng)電平。

石英晶片經(jīng)過(guò)被電極,上架、封裝即成為壓電諧振器。當外加電場(chǎng)的交變頻率與石英晶片的固有頻率相接近,且外加電壓的角頻率ω等于石英機械振動(dòng)的固有諧振角頻率ω時(shí)(取決于石英晶體的幾何尺寸和切型),晶片產(chǎn)生機械諧振,彈性振動(dòng)通過(guò)壓電效應與回路相耦合,其效果等于由Lm,Cm,Rm的串聯(lián)臂和C0并聯(lián)組成的諧振回路。此時(shí)機械振動(dòng)的幅度最大,相應地晶體表面所產(chǎn)生的電荷量最大,外電路中電流最大。

C0:Shunt Capacitance表示晶片與涂敷銀層構成的靜電容。
Lm:Motional Lnductance是晶體振蕩時(shí)機械振動(dòng)慣性的等效電感。
Cm:Motional Capacitance 是晶體諧振時(shí)晶片彈性的等效電容。
Rm:Resistance 用于等效晶片振動(dòng)時(shí)的磨擦損耗。
圖1顯示了這個(gè)通用電路模型。
圖1.通用晶體模型(基本模式)

現在,我們將詳細解析每個(gè)關(guān)鍵性參數。
共振頻率:
低于30MHz的晶體通常屬于基頻;高于 30MHz 時(shí),它們通常指定為 3次泛音, 5次泛音,甚至 7 次泛音。(泛音僅在奇數倍處出現。因此,重要的是要知道振蕩器是在基波模式下還是在泛音模式下工作。)
泛音在概念上類(lèi)似于諧波,只是晶體振蕩泛音不是基波的精確整數倍。泛音選擇基于使用盡可能低的泛音,這將導致晶體的基頻低于30MHz。
晶體供應商提供泛音晶體,是因為隨著(zhù)頻率的增加,石英材料變得越來(lái)越薄。15MHz至30MHz之間的晶體以基波或3次泛音。從大約 30MHz 開(kāi)始,石英變得如此薄,以至于在制造過(guò)程中難以處理,會(huì )因為太薄而不愿意處理?紤]到薄石英涉及的額外制造工作,選擇泛音模式而不是基頻模式指定的晶體可以大大降低成本。
石英晶體加工的最新發(fā)明是倒臺面晶體(HFF-XTAL)是一種高頻基本模式晶體單元,它利用由光刻技術(shù)實(shí)現的倒置臺式形狀AT- 截止,因此該晶體單元具有良好的溫度、老化和沖擊穩定性?梢栽诟叩幕J筋l率下制造出更薄的結構。倒置臺面晶體具有兩個(gè)顯著(zhù)的優(yōu)點(diǎn):它們可實(shí)現不太復雜的高頻振蕩器設計;它們通過(guò)避免使用外部電感器/電容來(lái)從晶體中感應出適當的泛音振蕩模式來(lái)減少元件數量。倒臺面晶體的制造商可以指定遠高于30MHz的基波模式晶體。但請注意,并非所有晶體供應商都可以提供倒置臺面技術(shù)。請記住,泛音模式晶體不能用于基波模式振蕩器,反之亦然。在這種情況下,泛音模式晶體可能會(huì )振蕩,但頻率不正確。
共振模式:
圖2.石英晶振的頻域電抗特性
其中Fs的是當電抗Z=0時(shí)的串聯(lián)諧頻率(譯注:它是Lm、Cm和Rm支路的諧振頻率),其表達式如下:
Fa是當電抗Z趨于無(wú)窮大時(shí)的并聯(lián)諧振頻率(譯注:它是整個(gè)等效電路的諧振頻率),其表達式如下:
在Fs到Fa的區域即通常所謂的:“并聯(lián)諧振區”(圖中的陰影部分),在這一區域晶振工作在并聯(lián)諧振狀態(tài)(譯注:該區域就是晶振的正常工作區域,Fa-Fs就是晶振的帶寬。帶寬越窄,晶振品質(zhì)因素越高,振蕩頻率越穩定)。在此區域晶振呈電感特性,從而帶來(lái)了相當于180 °的相移。其頻率FP(或者叫FL:負載頻率)表達式如下:
負載電容:
負載電容CL:負載電容CL是指連接到晶振上的終端電容。CL值取決于外部電容器CL1和CL2,刷電路板上的雜散電容(Cs)。CL值由由晶振制造商給出。保證振蕩頻率精度,主要取決于振蕩電路的負載電容與給定的電容值相同,保證振蕩頻率穩定度主要取決于負載電容保持不變。外部電容器CL1和CL2可用來(lái)調整CL,使之達到晶振制造商的標定值。

對于串聯(lián)諧振晶體,可以忽略負載電容規格。這是正確的,因為晶體的運動(dòng)電感和運動(dòng)電容是決定振蕩頻率的唯一LC元件。
在圖2中,當晶體模型的凈電感元件與晶體的內部保持電容共振時(shí),就會(huì )發(fā)生反諧振。反諧振不用于振蕩器設計。

串聯(lián)電阻:
串聯(lián)電阻是與晶體本身的LC模型串聯(lián)的有效電阻元件(見(jiàn)圖1)。振蕩器電路可以容忍一定程度的串聯(lián)電阻,但不能太大。大多數晶體的典型范圍為25Ω至100Ω。晶體供應商通常表征該電阻,并指定串聯(lián)電阻的典型值或最大值。過(guò)大的晶體串聯(lián)電阻會(huì )導致振蕩器啟動(dòng)失敗,因此必須在振蕩器設計中內置足夠的裕量。
上述準則的一個(gè)例外是32.768kHz手表晶體,其串聯(lián)電阻可以在幾十千歐姆。因此,對于此應用,振蕩器電路必須適應這種高串聯(lián)電阻。如果不解決這個(gè)問(wèn)題,將導致32.768kHz振蕩器不振蕩。您不應期望使用專(zhuān)為 10MHz 晶體設計的方式來(lái)評估 32.768kHz 晶體。這顯然是行不通的。

靜態(tài)電容:
所有晶體都有小電極,將晶體連接到封裝引腳。電極形成與晶體LC模型并聯(lián)的分流電容,如圖1所示。根據晶體的尺寸和封裝,分布電容可能會(huì )有所不同。典型值范圍為 2pF 至 6pF。一些振蕩器不能容忍過(guò)大的靜態(tài)電容。在較高頻率下尤其如此,因為保持器電容的電抗會(huì )降低。確保晶體供應商的支架電容在振蕩器的允許范圍內。作為一般規則,最小化靜態(tài)電容(越小越好)。

動(dòng)態(tài)電感和電容:
動(dòng)態(tài)電感和電容是晶體供應商提供的規格。它們描述了構成晶體電LC模型的L和C值。L與C的極端比值得注意,因為它在工作頻率下會(huì )產(chǎn)生非常大的感性和容性電抗值。這些大值使晶體具有極高的“品質(zhì)因數”,也稱(chēng)為“Q”。(Q是儲存的能量與耗散能量的比值,也稱(chēng)為諧振頻率下的電抗與串聯(lián)電阻之比。對于 LRC 電路,Q = 1/R * 平方 (L/C)。(此推導超出了本文的范圍。高Q值是理想的,因為較高的Q值意味著(zhù)振蕩器負載電容變化時(shí)的頻率偏移較小,而由于振蕩器電源電壓等其他外部因素引起的偏移較小。振蕩器電路可能需要也可能不需要運動(dòng)電感和電容的規格。

溫度特性:
石英晶體的頻率隨溫度而變化。頻率變化的量取決于石英從原始晶體切割的角度。隨著(zhù)頻率的溫度頻差變小,溫度范圍也隨之減小。AT切割晶體最常用于其在寬溫度范圍內的最高穩定性。

驅動(dòng)功率級別:
必須限制晶體中的功率耗散,否則石英晶體實(shí)際上會(huì )因過(guò)度的機械振動(dòng)而失效。由于非線(xiàn)性行為,晶體特性也隨驅動(dòng)電平而變化。分析振蕩器設計以確定晶體中的功耗。功耗是晶體電流平方乘以晶體串聯(lián)電阻的乘積。對于并聯(lián)諧振振蕩器,晶體電流等于負載電容兩端的RMS電壓除以負載電容在振蕩器頻率下的電抗。對于串聯(lián)諧振晶體,晶體電流是晶體兩端的RMS電壓除以晶體內部串聯(lián)電阻。

隨著(zhù)晶體出現在更多使用微控制器、數字信號處理器和數據轉換器的產(chǎn)品中,預計晶體的使用量將會(huì )增加。晶體技術(shù)也在向前發(fā)展,從而帶來(lái)更好的性能和更低的成本。

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