IC測試的創(chuàng )新

發(fā)布時(shí)間:2010-3-1 14:40    發(fā)布者:賈延安
EDA工具加速I(mǎi)C 測試

隨著(zhù)IC制程節點(diǎn)從90nm向65nm和45nm延伸,需要測試的數據量會(huì )激增,相應地會(huì )帶來(lái)測試成本的提高(圖1)。例如,從90nm到65nm時(shí),由于增加了門(mén)數,傳統的測試量急劇增加;同時(shí),在速(at-speed)測試也成倍增加,這是由于時(shí)序和信號完整性的敏感需求;到了45nm時(shí)代,在前兩者的基礎上,又增加了探測新缺陷的測試。



為了提高測試效率,對測試數據的壓縮持續增長(cháng)。據ITRS(國際半導體技術(shù)發(fā)展路線(xiàn)圖)預測(圖2),2010年的壓縮需求比2009年翻番。



仔細分析,可見(jiàn)這是由多方面因素導致的。首先,測試項目的非常復雜,例如,芯片中的不同部分采用不同的測試工具,例如CPU核采用ATPG工具,內存需要內存BIST(內置自測試)工具和內存修復工具,I/O需要SERDES工具,PLL有PLL測試工具,ASIC需要邏輯BIST工具和邊界掃描工具,另外,如何管理IP、工具、接口和相互兼容等也是個(gè)問(wèn)題。因此,這就有可能影響測試成本和上市時(shí)間。另外,納米級制造中也會(huì )出現一些光刻制造瑕疵(圖3)。



這些使測試更加復雜,并有可能增加測試成本和延長(cháng)上市時(shí)間。為了使客戶(hù)應對更小的制程節點(diǎn)中更復雜、更低功耗的混合信號SoC測試,Mentor推出了其嵌入式壓縮和自動(dòng)測試向量生成(ATPG)技術(shù),與Mentor公司2009年8月收購的LogicVision公司的BIST 技術(shù)結合,組合為T(mén)essent。Tessent堪稱(chēng)復雜的可測試設計(DFT)和芯片測試方案組合之一,它還包括原LogicVision公司的 SiliconInsight產(chǎn)品、Mentor的布線(xiàn)應用診斷工具和新發(fā)布的Tessent YieldInsight產(chǎn)品,可提供用于流片后(Post-silicon)的測試描述和產(chǎn)出分析。

IC 測試設備向靈活多樣發(fā)展

為了降低測試成本,Verigy(惠瑞杰)IC 測試設備開(kāi)始從高端向低端覆蓋,并且趨向板卡式等靈活性方案。

2006年,安捷倫公司的半導體測試部門(mén)被剝離成Verigy公司。該公司一直穩扎穩打,2009年被VLSI Research公司評為市場(chǎng)層面的2009年最佳芯片制造設備供應商(表1),在2009十佳芯片制造設備供應商中排名第4(表2)。



不僅如此,該公司也開(kāi)始從傳統的高端向價(jià)廉的中低端發(fā)展,例如推出了低于100MHz的SoC(V101系列設備),目前占該公司10%左右的份額。目前,Verigy 70%以上業(yè)務(wù)服務(wù)于大于100MHz的SoC(產(chǎn)品為該公司著(zhù)名的V93K系列)。另外,存儲類(lèi)測試(V6000系列設備)占10%。不僅如此,該公司還發(fā)展存儲測試卡,預計2012年左右,先進(jìn)的存儲測試卡(TdT系列)、其他存儲(V6000)系列增長(cháng)很快,將各占20%市場(chǎng)份額左右。

高端SoC測試測量設備趨向于靈活性提高,并降低成本。以V93000系列來(lái)說(shuō),產(chǎn)品系列簡(jiǎn)潔,只有區區幾個(gè)系列,卻可以完成多種測試,秘訣在于在測試臺上可以更換板卡,有的測試設備可以放置20多種板卡。其核心技術(shù)也在于這些板卡上Verigy專(zhuān)有的ASIC芯片(Verigy像安捷倫一樣,有自己的IC設計團隊,因此競爭對手很難模仿)。

V101平臺是針對低端IC 測試的,例如MCU測試,該產(chǎn)品2009年6月才推出,該設備的重要目標是在華的MCU制造商和代工廠(chǎng)。

內存市場(chǎng)周期性變化影響顯著(zhù)(圖4和圖5),預計2010年下半年內存市場(chǎng)將恢復,其驅動(dòng)力為智能手機、Windows 7,長(cháng)期驅動(dòng)力是SSD(固態(tài)硬盤(pán))。據美國應用材料公司的Mike Splinter預測,DRAM將在2010年一季度成為巨大的復蘇驅動(dòng)力。Verigy的V6000系列的特點(diǎn)是AC性能高于880Mbit/s,能同時(shí)測試超過(guò)18k I/O引腳和4k PPS(可編程電源)。同時(shí)可適合各種內存器件,靈活可配置,成本較低。



VLSI Research公司預計先進(jìn)的內存測試卡市場(chǎng)在2010年將達到5億美元市場(chǎng)(圖6),2013年達到8億美元市場(chǎng)。Verigy的觸壓 (Touchdown)業(yè)務(wù)始于2006年,主要做基于MEMS的測試卡,用于內存測試(NOR、DRAM和NAND)。與V6000系列一樣,服務(wù)同樣的客戶(hù),但是成本更低。產(chǎn)品用于美國、我國臺灣、日本和新加坡等。



作者:Mentor Graphics公司Joseph Sawicki 來(lái)源:電子產(chǎn)品世界 2010-2
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