|
白光干涉儀在測量材料表面三維形貌方面的應用非常廣泛，它通過(guò)非接觸式測量方法，能夠提供高精度的表面形貌數據。以下是白光干涉儀在測量三維形貌時(shí)的一些關(guān)鍵應用和特點(diǎn)： 1. 高精度測量：白光干涉儀能夠提供亞納米級的測量精度，非常適合于納米或亞納米級別的超高精度加工領(lǐng)域的檢測需求。它在同等放大倍率下的測量精度和重復性都高于共聚焦顯微鏡和聚焦成像顯微鏡 。 2. 非接觸式測量：作為一種非接觸式測量技術(shù)，白光干涉儀不會(huì )對樣品表面造成損傷，這對于易損或敏感材料的測量尤為重要。 3. 快速測量：白光干涉儀的測量速度快，可以快速獲取表面形貌數據，適合于快速檢測和質(zhì)量控制。 4. 廣泛的測量范圍：白光干涉儀能夠測量從超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物體表面，適用于不同材料和不同表面特性的測量。 5. 三維形貌重建：通過(guò)干涉條紋的變化，白光干涉儀能夠重建物體表面的三維形貌，提供詳細的表面特征信息。 6. 軟件分析：白光干涉儀通常配備有專(zhuān)門(mén)的軟件，用于操作控制、結果顯示和后處理，能夠以三維立體、二維平面以及斷面分布曲線(xiàn)方式顯示實(shí)時(shí)測量結果，并可對測量結果作進(jìn)一步的修正處理 。 8. 圖像拼接技術(shù)：為了擴大測量視野范圍，白光干涉儀可以采用圖像拼接技術(shù)，通過(guò)軟件處理將多個(gè)測量區域的數據拼接成一個(gè)完整的三維形貌圖 。 9. 表面參數表征：白光干涉儀能夠測量并分析表面粗糙度、臺階高度、幾何輪廓等參數，為材料表面質(zhì)量提供全面的評估。 10. 硬件構成：白光干涉儀的系統構成通常包括光學(xué)照明系統、光學(xué)成像系統、垂直掃描控制系統和信號處理系統 。 綜上所述，白光干涉儀是一種強大的工具，它通過(guò)高精度的非接觸式測量，為材料表面三維形貌的分析提供了豐富的數據和深入的洞察。 |
