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實(shí)驗名稱(chēng)：低階大行程像差補償器件性能測試 測試目的：根據設計方案和研究結果制備了基于低階像差的3單元單壓電片變形鏡作為低階大行程像差補償器件，搭建實(shí)驗系統對其相關(guān)性能進(jìn)行了測試，并與仿真結果進(jìn)行了對比分析。 測試設備：高壓放大器、哈特曼傳感器、雙壓變形鏡、計算機等。 實(shí)驗過(guò)程： 圖1：變形鏡影響函數測試系統結構流程圖 圖2：實(shí)驗光路圖 哈特曼波前傳感器自帶光源發(fā)出的光束經(jīng)傳感器內準直擴束系統和分光反射鏡組合后入射到變形鏡表面，光束經(jīng)變形鏡反射后，帶有變形鏡鏡面信息的光束入射到哈特曼傳感器內采集相機靶面上，由哈特曼傳感器控制計算機完成波前復原，完成變形鏡面形的測試。波前探測裝置為自帶準直光源、通光孔徑為30mm的哈特曼傳感器，探測結果和圖像采集均由波前采集控制中心完成，驅動(dòng)電壓由控制中心產(chǎn)生電壓信號，經(jīng)47通路的高壓放大器放大輸出。 實(shí)驗結果： 圖3：激光干涉儀測初始面形圖 從圖中結果可知，變形鏡全口徑面形PV大約為3.35個(gè)波長(cháng)，15mm有效口徑內面形PV大約為1.12個(gè)波長(cháng)，干涉儀測試激光波長(cháng)為650nm，有效口徑內初始面形PV值為0.73μm。硅鏡拋光過(guò)程和變形鏡粘接過(guò)程都可能導致初始面形的不平整，在閉環(huán)校正過(guò)程中，變形鏡能對自身初始面形進(jìn)行校正。 圖4：哈特曼傳感器測初始面形圖 用哈特曼傳感器測量有效口徑的初始面形結果如上圖，初始面形PV值為0.79μm，與干涉儀測量結果大致相同。影響函數反應了變形鏡在驅動(dòng)電壓下的表面變形能力。影響函數的面形特點(diǎn)直接決定了變形鏡對波前畸變的補償精度，其幅值大小也決定了變形鏡的校正行程，行程越大，變形鏡單次校正像差的能力越強，閉環(huán)校正速度也越快。 電壓放大器推薦：ATA-7010 圖：ATA-7010高壓放大器指標參數 本資料由Aigtek安泰電子整理發(fā)布，更多案例及產(chǎn)品詳情請持續關(guān)注我們。西安安泰電子Aigtek已經(jīng)成為在業(yè)界擁有廣泛產(chǎn)品線(xiàn)，且具有相當規模的儀器設備供應商，樣機都支持免費試用。高壓放大器https://www.aigtek.com/products/bk-gyfdq.html |
