Aigtek高壓放大器在液晶顯示圖像殘留研究中的應用

發(fā)布時(shí)間:2025-3-25 10:42    發(fā)布者:aigtek01
關(guān)鍵詞: 高壓放大器
  實(shí)驗名稱(chēng):納米粒子摻雜對響應時(shí)間的影響
  測試設備:高壓放大器、信號發(fā)生器、示波器、熱臺控制器、衰減器、探測器等。
  實(shí)驗過(guò)程:

  圖1:VAN盒響應時(shí)間的測量裝置
  響應時(shí)間也是影響液晶顯示圖像殘留的重要參數,響應時(shí)間越短越不容易產(chǎn)生圖像殘留。實(shí)驗中測量響應時(shí)間的裝置如圖1所示,光源為632.8nm的紅色激光,光源經(jīng)過(guò)衰減器、可調光闌、偏振片和λ/4波片后成圓偏振光,經(jīng)過(guò)起偏器后成線(xiàn)偏振光,起偏器與檢偏器的光軸方向成90°,熱臺控制液晶盒的溫度為28°C。信號發(fā)生器輸出1kHzAC方波信號和DC信號的組合波形,組合波形的周期為2s,經(jīng)高壓放大器放大后施加在液晶盒上。當電壓超過(guò)液晶盒閾值電壓后,探測器會(huì )檢測到光強的變化并傳輸到示波器上,通過(guò)示波器可以觀(guān)察到液晶的動(dòng)態(tài)響應過(guò)程。
  實(shí)驗結果:

  圖2:不同摻雜濃度γ-Fe2O3納米粒子與負性L(fǎng)C混合物在VAN盒中的下降和上升時(shí)間

  圖3:不同摻雜濃度與響應時(shí)間的關(guān)系(a)歸一化透過(guò)率與下降時(shí)間的關(guān)系;(b)歸一化透過(guò)率與上升時(shí)間的關(guān)系;(c)下降時(shí)間與摻雜濃度的關(guān)系;(d)上升時(shí)間與摻雜濃度的關(guān)系
  實(shí)驗測得的不同摻雜γ-Fe2O3納米粒子濃度對響應時(shí)間的影響如圖2所示,由圖可知納米粒子摻雜對響應時(shí)間有一定的影響。圖3(a)和圖3(b)分別給出了下降時(shí)間和上升時(shí)間的放大圖,其中下降時(shí)間為去電壓過(guò)程,上升時(shí)間為加電壓過(guò)程;由圖3(c)和圖3(d)可以看出上升時(shí)間和下降時(shí)間均隨摻雜濃度的增加先降低后升高,并在摻雜濃度為0.034wt%時(shí)達到最低值,在摻雜濃度為0.034wt%時(shí),下降時(shí)間可以縮短8.11%,上升時(shí)間可以縮短15.49%。SRDCV與響應時(shí)間隨γ-Fe2O3納米粒子摻雜變化規律一致,說(shuō)明γ-Fe2O3納米粒子的摻雜有效改善了VAN顯示模式的圖像殘留現象。
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  圖:ATA-7015高壓放大器指標參數
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