實(shí)驗名稱(chēng)：納米粒子摻雜對響應時(shí)間的影響
測試設備：高壓放大器、信號發(fā)生器、示波器、熱臺控制器、衰減器、探測器等。
實(shí)驗過(guò)程：
響應時(shí)間也是影響液晶顯示圖像殘留的重要參數，響應時(shí)間越短越不容易產(chǎn)生圖像殘留。實(shí)驗中測量響應時(shí)間的裝置如圖1所示，光源為632.8nm的紅色激光，光源經(jīng)過(guò)衰減器、可調光闌、偏振片和λ/4波片后成圓偏振光，經(jīng)過(guò)起偏器后成線(xiàn)偏振光，起偏器與檢偏器的光軸方向成90°，熱臺控制液晶盒的溫度為28°C。信號發(fā)生器輸出1kHzAC方波信號和DC信號的組合波形，組合波形的周期為2s，經(jīng)高壓放大器放大后施加在液晶盒上。當電壓超過(guò)液晶盒閾值電壓后，探測器會(huì )檢測到光強的變化并傳輸到示波器上，通過(guò)示波器可以觀(guān)察到液晶的動(dòng)態(tài)響應過(guò)程。
實(shí)驗結果：
圖2：不同摻雜濃度γ-Fe2O3納米粒子與負性L(fǎng)C混合物在VAN盒中的下降和上升時(shí)間
圖3：不同摻雜濃度與響應時(shí)間的關(guān)系（a）歸一化透過(guò)率與下降時(shí)間的關(guān)系；（b）歸一化透過(guò)率與上升時(shí)間的關(guān)系；（c）下降時(shí)間與摻雜濃度的關(guān)系；（d）上升時(shí)間與摻雜濃度的關(guān)系
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