美國俄亥俄州克里夫蘭，2012年3月19日訊–先進(jìn)電氣測試儀器與系統的世界級領(lǐng)導者吉時(shí)利儀器公司今日發(fā)布2657A高功率數字源表。2657A為吉時(shí)利2600A系列高速、精密源測量單元數字源表系列產(chǎn)品增加了高電壓功能。此系列儀器能幫助吉時(shí)利客戶(hù)分析范圍更寬的功率半導體器件和材料。2657A內建3,000V、180W源，支持以極低的成本向被測器件輸出5倍于最接近競爭系統的功率，并且，構建至2657A的精密、高速6位半測量引擎的1fA（飛安）電流測量分辨率滿(mǎn)足了下一代功率半導體器件的低漏電要求。
2657A專(zhuān)門(mén)做了這些優(yōu)化：二極管、FETs和IGBTs等功率半導體器件的高壓測試應用以及氮化鎵(GaN)、碳化硅(SiC)等新材料及其它復合半導體材料和器件的特性分析。而且，2657A還適于高速瞬態(tài)分析以及在高達3000V的各種電子器件上進(jìn)行故障測試和漏電測試。 類(lèi)似于2600A系列的其它產(chǎn)品，2657A提供了極高的靈活性、四象限電壓和電流源/負載，外加精密電壓計和電流計。2657A在一個(gè)全機架機箱中整合了多種儀器功能：半導體特性分析儀、精密電源、真電流源、6位半DMM、任意波形發(fā)生器、電壓或電流脈沖發(fā)生器、電子負載和觸發(fā)控制器，而且通過(guò)吉時(shí)利的TSP-Link®技術(shù)完全可擴展至多通道、緊同步系統。與功率相對有限的同類(lèi)競爭方案所不同的是，2657A的源或阱能力高達180W直流功率(±3,000V@20mA，±1500V@120mA)。而且，2657A具有1fA分辨率，甚至在輸出3000V高壓的同時(shí)還能快速、準確地進(jìn)行亞皮安級電流測量。 數字化或集成測量模式 對于瞬態(tài)和穩態(tài)特性分析（包括快速變化的熱效應）而言，2657A可以選擇數字化測量模式或集成測量模式。每種模式由兩個(gè)獨立的模數轉換器(ADC)定義：一個(gè)用于電流，另一個(gè)用于電壓，這兩個(gè)ADC同步工作并在不犧牲測試吞吐量的前提下確保源回讀的準確性。數字化測量模式的18bit模數轉換器支持1毫秒每點(diǎn)的采樣，使用戶(hù)能同步采樣電壓和電流瞬時(shí)值。反之，競爭方案通常須對多個(gè)讀數取平均值后得出結果，所以競爭方案的瞬態(tài)特性分析速度不夠快�；�22bit模數轉換器且為整個(gè)2600A系列儀器所共有的集成測量模式，優(yōu)化了2657A在需要最高測量準確度和分辨率應用中的操作，確保了下一代功率半導體器件常見(jiàn)的極低電流和極高電壓的高精密測量。 強大的測試開(kāi)發(fā)工具 無(wú)需安裝軟件或使用吉時(shí)利基于LXI的I-V測試軟件工具TSP Express編程就能實(shí)現基本的器件特性分析。用戶(hù)只需將PC連接至LXI LAN端口并用任意支持Java的Web瀏覽器即能訪(fǎng)問(wèn)TSP Express。測試結果可以用圖形方式或列表方式查看，然后導出為電子表格應用的.csv文件。2657A提供創(chuàng )建測試序列的兩種附加工具：測試腳本生成器應用（用于創(chuàng )建、修改、調試、運行和管理TSP腳本）和基于IVI的LabVIEW®驅動(dòng)程序（簡(jiǎn)化了將2657A集成至LabVIEW測試序列）。測試腳本生成器應用的新調試功能使測試項目開(kāi)發(fā)更方便并且更有成效。 ACS軟件基礎版也是元器件特性分析的一個(gè)選件。最新發(fā)布版具有的豐富特性便于分析高電壓和大電流元器件。已更新的附帶測量庫用于支持高壓2657A和大電流2651A高功率數字源表的直流和脈沖工作模式。通過(guò)測試大多數器件的輸入、輸出和傳輸特性，這些測量庫支持FETs、BJT、二極管、IGBTs等各種功率器件。一種特殊的“追蹤模式”用簡(jiǎn)單滑動(dòng)條實(shí)現對儀器電壓或電流輸出的實(shí)時(shí)控制。 靈活、準確度高的連接和探測方案 2657A能通過(guò)兼容現有高壓測試應用的標準安全高壓(SHV)同軸電纜連接至測試系統的其它儀器。但是，對于需要從測量?jì)x器的小電流測量中實(shí)現性能最大化的應用而言，吉時(shí)利還提供了專(zhuān)門(mén)的高壓三軸（防漏電）的連接以最佳化2657A的測量準確度。 新型8010高功率器件測試夾具選件能連接高達3000V或100A的測試封裝高功率器件，可以更安全、更容易地配置包含高電壓2657A，一臺或兩臺大電流2651A測量?jì)x器以及多達3臺低功率SMU儀器（其它2600A系列儀器或4200-SCS半導體特性分析系統）的器件測試系統。除了標準的香蕉頭跳線(xiàn)外，8010的后面板示波器和散熱探針端口簡(jiǎn)化了DUT深入特性分析的系統集成。8010具有完整的安全互鎖功能。為防止在發(fā)生器件故障時(shí)損壞測量?jì)x器，8010的集成保護電路防止2600A系列儀器的較低電壓輸入端口被2657A輸出的高壓損壞。而且，獨立保護模塊簡(jiǎn)化了多臺SMU與第三方探測臺、元器件機械手或其它測試夾具的連接。 了解更多信息 關(guān)于2657A的更多信息，請訪(fǎng)問(wèn)吉時(shí)利網(wǎng)站：http://www.keithley.com.cn/ 或按照以下方式與吉時(shí)利公司聯(lián)系： 吉時(shí)利儀器公司（中國）市場(chǎng)部 (T) 800 810 1334/400 650 1334，8610-8447 5556 (E) china@keithley.com 地址：北京市朝陽(yáng)區霄云路 36 號國航大廈 303 - 308 室 關(guān)于吉時(shí)利公司 美國吉時(shí)利儀器公司擁有60多年測試與測量的豐富經(jīng)驗，成為世界先進(jìn)電子量測儀器和系統的領(lǐng)導者。我們的客戶(hù)都是在全球電子相關(guān)行業(yè)從事先進(jìn)材料研究，半導體組件開(kāi)發(fā)和制造，以及生產(chǎn)便攜式無(wú)線(xiàn)裝備等產(chǎn)品的科學(xué)家和工程師。吉時(shí)利提供給客戶(hù)的價(jià)值，是專(zhuān)對客戶(hù)關(guān)鍵量測需求與掌握客戶(hù)的應用提供一整套完整解決方案，以提高客戶(hù)產(chǎn)品質(zhì)量和降低測試成本。2010年，吉時(shí)利儀器與泰克測試測量業(yè)務(wù)合并。 本文中涉及的產(chǎn)品和公司名稱(chēng)均為注冊商標或各自公司的商標名稱(chēng)。 |
