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美國國家儀器公司（National Instruments, 簡(jiǎn)稱(chēng) NI）近日發(fā)布《2012年自動(dòng)化測試趨勢展望》,其中分享了公司對最新測試測量技術(shù)和方法的研究發(fā)現。 該趨勢報告詳細介紹了影響眾多行業(yè)的發(fā)展趨勢，包括消費電子產(chǎn)品、汽車(chē)、半導體，航空航天與國防、醫療設備以及通訊。 工程師和管理人員可從中了解并采用優(yōu)化測試組織的最新策略和最佳方式。 2012年趨勢展望報告由5個(gè)類(lèi)別組成： 商業(yè)戰略、架構、計算、軟件和I/O，并探討了以下主要趨勢： • 測試組織的優(yōu)化: 各個(gè)組織將測試工程視為戰略資產(chǎn)，以在競爭中獲得優(yōu)勢。 • 設計流程中的測量與仿真：將復雜模型與真實(shí)測量結合，提高產(chǎn)品質(zhì)量，縮短開(kāi)發(fā)時(shí)間。 • PCI Express外部接口: 高速、低延遲PC內部總線(xiàn)擁有新的系統拓撲結構，并增強了外部接口功能。 • 移動(dòng)設備的迅速普及: “智能手機和平板電腦的普及”正改變著(zhù)測試系統控制和監測的方式。 • 便攜的測量算法：全新工具可實(shí)現一次開(kāi)發(fā)測量IP，即可部署至多個(gè)不同的處理單元。 《2012年自動(dòng)化測試趨勢展望》的內容源于學(xué)術(shù)界和工業(yè)界的研究、用戶(hù)論壇與調查、商業(yè)智能化和用戶(hù)顧問(wèn)委員會(huì )的反饋意見(jiàn)。 該報告以數據為基礎，詳細介紹了下一代技術(shù)趨勢，以此應對測試測量領(lǐng)域的商業(yè)和技術(shù)挑戰。 《自動(dòng)化測試趨勢展望》由NI測試行業(yè)領(lǐng)導委員會(huì )編寫(xiě)，NI創(chuàng )立該委員會(huì )，旨在促進(jìn)全球不同行業(yè)內數千家客戶(hù)分享反饋各自的最佳測試測量方法。 NI測試行業(yè)領(lǐng)導委員會(huì )以促進(jìn)測試行業(yè)領(lǐng)導人之間的交流為目標，鼓勵他們提出商業(yè)和技術(shù)的獨到見(jiàn)解。 領(lǐng)導委員會(huì )的活動(dòng)內容包括領(lǐng)導人會(huì )議、同行互通網(wǎng)絡(luò )和技術(shù)交流。 請訪(fǎng)問(wèn) ni.com/ato/zhs，詳細閱讀2012年《自動(dòng)化測試趨勢展望》。 |
