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多器件測試 TEC測試和控制 許多激光二極管模組配備了半導體制冷器（帕爾貼器件）。一般地，可以用TEC控制器在LIV測試掃描中控制整個(gè)模組的溫度。還可以調節溫度設定點(diǎn)來(lái)對TEC的功能進(jìn)行校驗，并可在達到新的設定溫度之后檢驗熱敏電阻的阻值。 過(guò)大的機械剪切載荷可能是最常見(jiàn)的帕爾貼器件失效機理。在傳送和安裝帕爾貼器件過(guò)程中，機械剪切載荷會(huì )導致器件的部分或全部元件的分層或破損。簡(jiǎn)單的交流或反向直流電阻測試可以在安裝前后確定帕爾貼器件的質(zhì)量。由于組成元件的自加熱效應以及隨之而來(lái)的熱偏移導致直流電阻測量結果并不準確。2510-AT型TEC 源表可以提供所需的雙極源電流和電壓測量，方便進(jìn)行這項測試。 隔離測試 利用開(kāi)關(guān)矩陣可以在激光二極管模組的各個(gè)組成元件中方便地進(jìn)行隔離測試。舉例來(lái)說(shuō)，熱敏電阻與激光二極管間的電隔離可以通過(guò)在熱敏電阻和激光二極管之間施加電壓，同時(shí)保持熱敏電阻和激光二極管各自的兩個(gè)端子上具有相同的電勢，來(lái)進(jìn)行測試，上述措施可以避免電流流過(guò)各個(gè)元件本身。 了解吉時(shí)利2602型源表更多信息，請戳http://www.keithley.com.cn/products/localizedproducts/currentvoltage/2602/ 想與吉時(shí)利測試測量專(zhuān)家互動(dòng)？想有更多學(xué)習資源？可登錄吉時(shí)利官方網(wǎng)站http://www.keithley.com.cn/ |
