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為迎接4G/LTE及云端時(shí)代來(lái)臨，電子驗證測試產(chǎn)業(yè)-iST宜特科技今宣布，針對印刷電路板(PCB)的質(zhì)量，推出聲發(fā)射測試(Acoustic Emission，簡(jiǎn)稱(chēng)AE)。此法將可協(xié)助云端基地臺/服務(wù)器的PCB廠(chǎng)商，在板材研發(fā)階段，即可判斷選用哪一種銅箔印刷電路板(CCL)材料，最適合其制程環(huán)境，以克服焊盤(pán)坑裂的缺陷。 宜特觀(guān)察發(fā)現，焊盤(pán)坑裂現象，就是PCB焊盤(pán)下方產(chǎn)生裂痕，最常發(fā)生于云端服務(wù)器、通訊基地臺所使用的高頻高速PCB上；主要原因有二，其一為，高頻高速的材料屬性，具有材料黏合強度較弱的缺點(diǎn)。其二為，無(wú)鉛無(wú)鹵的要求，使得材料屬性偏向脆硬，組裝運送過(guò)程中，易受外部機械應力，產(chǎn)生焊盤(pán)坑裂的缺陷。 然而，焊盤(pán)坑裂的缺陷，無(wú)法于組裝制程與出貨檢驗時(shí)，藉由電性測試與外觀(guān)檢測出來(lái)，因為一般PCB材料的內部微裂，是不會(huì )產(chǎn)生電性失效，因此大多廠(chǎng)商無(wú)法及早發(fā)現PCB材料中的裂痕。 「倘若隨著(zhù)產(chǎn)品而流入市場(chǎng)被使用，盡管短期使用沒(méi)問(wèn)題，但此坑裂現象，就像是未爆彈，長(cháng)期而言將大幅影響產(chǎn)品運作穩定度，產(chǎn)生客退糾紛，特別是具高可靠度嚴苛要求的云端基地臺/服務(wù)器裝置�！挂颂乜萍紘H工程發(fā)展處協(xié)理 李長(cháng)斌表示。 
圖說(shuō):AE所偵測之失效由藍色線(xiàn)段表示，電性所偵測之失效由紅色線(xiàn)段表示。由左圖可知，AE將比電性測試更早偵測到板材微裂缺陷 為偵測印刷電路板焊盤(pán)坑裂，并彌補電性測試之不足，宜特近年來(lái)與國際網(wǎng)通大廠(chǎng)、美國IPC(國際電子工業(yè)聯(lián)接協(xié)會(huì )，Association Connecting Electronics Industries ) 共同開(kāi)發(fā)聲發(fā)射測試手法(AE)。IPC美國總部也在2013年底將此法發(fā)布為IPC 9709 標準，宜特將此方式與本月正式導入，以協(xié)助客戶(hù)確認產(chǎn)品質(zhì)量。 聲發(fā)射測試手法，一般用在地震監測或是建筑及航空材料之強度測試；而宜特將此方法轉用于PCB檢測上。利用板彎試驗的同時(shí)，藉由AE sensor探測板材受應力后產(chǎn)生微裂時(shí)產(chǎn)生的聲波，完整探測整個(gè)板材平面受應力后裂紋發(fā)生的位置，并偵測其能量強度。藉此，檢測印刷電路板高頻材料，抵抗焊盤(pán)坑裂的能力。
圖說(shuō)：左圖為紅墨水失效分析結果，右圖為橫截面失效分析結果。以上樣品經(jīng)由電性測試后，并未發(fā)生失效，然而透過(guò)AE可偵測出上圖之焊盤(pán)下的裂紋。并且經(jīng)由紅墨水及橫斷面失效分析左證，板材中實(shí)際上已有裂紋產(chǎn)生。 透過(guò)AE聲發(fā)射測試，將可協(xié)助PCB供貨商，在選用銅箔印刷電路板(CCL) 材料階段時(shí)，透過(guò)量化方法，厘清在不同的制程環(huán)境下，那一種材料最適合其選用，以克服焊盤(pán)坑裂的缺陷。若您對此驗證服務(wù)有興趣，請洽中國免費咨詢(xún)專(zhuān)線(xiàn)800-828-8686│is@isti.com.cn。 |
