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美國國家儀器公司（National Instruments, 簡(jiǎn)稱(chēng) NI） “第十五屆圖形化系統設計征文競賽”已于近日正式啟動(dòng)。此次大賽針對所有使用NI產(chǎn)品的用戶(hù)，旨在進(jìn)一步推動(dòng)圖形化系統設計在國內的發(fā)展和應用，使更多的工程師們能更快更好地開(kāi)發(fā)符合特定要求的測控應用。 從2000年開(kāi)始，該活動(dòng)已經(jīng)成功舉辦了十四屆，得到廣大NI新老用戶(hù)的熱情支持，每年都收集到數量眾多的優(yōu)秀創(chuàng )新應用方案，使得大賽獲獎應用方案文集備受青睞�；顒�(dòng)一旦正式報名參與，即有獎勵。入圍決賽者更將有機會(huì )獲得豐厚的獎金、超值產(chǎn)品升級與培訓獎勵，以及免費參加 NIDays技術(shù)盛會(huì )的機會(huì )。決賽獲獎文章還將發(fā)表在權威期刊《儀器儀表學(xué)報》增刊上 。 您想贏(yíng)得免費參加NI一年一度的行業(yè)盛會(huì )NIDays的機會(huì )嗎？您想與業(yè)內同行分享您利用NI平臺化解決方案開(kāi)發(fā)出的創(chuàng )新及前沿應用嗎？您想通過(guò)我們的媒體宣傳渠道提升您個(gè)人在業(yè)內的知名度嗎？請不要錯過(guò)今年的征文競賽。歡迎您即刻報名參加！ 有關(guān)比賽詳情，請訪(fǎng)問(wèn)下列網(wǎng)址：http://china.ni.com/papercontest2015。 |
