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作者：美國國家儀器有限公司 Eric Starkloff 更加智能化的設備意味著(zhù)設計和測試中將面臨更多的挑戰 實(shí)時(shí)測試軟件方便二次測試 實(shí)現從設計到最終測試的整個(gè)過(guò)程 越來(lái)越多的智能設備正在進(jìn)入我們生活的角角落落，包括您的電腦，智能電話(huà)，最新的蘋(píng)果iPad等等。而設備中的嵌入式軟件還在不停地促使您的汽車(chē)，洗衣機和電網(wǎng)向著(zhù)智能化的方向發(fā)展。事實(shí)上，在我們的生活中，已經(jīng)越來(lái)越難找到不包含嵌入式軟件的大型電子設備了。 有誰(shuí)會(huì )想到，為了去一趟雜貨店，我們的汽車(chē)需要多少電子控制單元（ECU）不停地運作？又有誰(shuí)會(huì )想到，今天的汽車(chē)所能帶給我們的舒適享受已將過(guò)去我們認為煩惱，瑣碎的駕駛變成了一種美好的體驗。然而，然而，隨著(zhù)基于軟件的設備變得更加普遍和復雜，嵌入式工程師越來(lái)越面臨著(zhù)簡(jiǎn)化設備的設計和測試過(guò)程，實(shí)現設備缺陷可追溯性的巨大挑戰。 目前的嵌入式開(kāi)發(fā)過(guò)程通常包括不同形式的設計仿真、驗證、確認和系統測試。在這些階段，設計和測試工具間很難過(guò)渡。這往往會(huì )造成需要將測試代碼，測試案例，和仿真與I/O接口重新寫(xiě)入到模型中。 此外，由于傳統設計工具也正變得越來(lái)越繁重，而模型和用例也日益復雜，我們很難將用于純仿真測試的多個(gè)模型連結在一起。這些問(wèn)題對企業(yè)在利潤，人員需求，文檔化及產(chǎn)品上市時(shí)間等方面提出了挑戰。 實(shí)時(shí)測試軟件的角色 對之前開(kāi)發(fā)過(guò)程中用到的設計和測試工具、模型以及仿真數據進(jìn)行復用，是目前嵌入式控制設備開(kāi)發(fā)的一個(gè)趨勢。許多設計和測試工程師在整個(gè)開(kāi)發(fā)過(guò)程中會(huì )積極地復用設計模型。然而，如果這些工程師在設計流程中也對測試進(jìn)行復用，那么就能進(jìn)一步實(shí)現更高的效率和質(zhì)量（見(jiàn)圖）。 
為了滿(mǎn)足這一需求，一種新型軟件——實(shí)時(shí)測試軟件誕生了。該軟件能夠幫助工程師在整個(gè)嵌入式設計流程中復用測試任務(wù)，例如激勵配置、測試序列、分析程序和需求跟蹤。所謂“實(shí)時(shí)”是指該軟件對嵌入式系統其余部分進(jìn)行建模，從而具備在真實(shí)環(huán)境中，對測試設備(DCT)進(jìn)行測試固件的能力。 在設計流程的各個(gè)階段，從最初的產(chǎn)品定義一直到最終的系統測試，您可以通過(guò)使用相同的測試軟件組件來(lái)獲得更好的連續性。這對于診斷臨床故障而言尤為重要——由于特征采集和生產(chǎn)中的測試程序不同導致很難判斷故障原因的案例屢見(jiàn)不鮮。 例如，當開(kāi)發(fā)嵌入式控制軟件時(shí)，激勵配置，分析程序以及其他模型在環(huán)（MIL）設計任務(wù)中使用到的組件將會(huì )被復用，以創(chuàng )建硬件在環(huán)（HIL）以及原型控制器的現場(chǎng)測試。 一旦這一階段完成，演進(jìn)的軟件測試組件將是HIL、子系統，和系統集成測試系統開(kāi)發(fā)的起點(diǎn)。 最終，在設計階段制造商所使用的生產(chǎn)測試計劃與原先設計階段的測試計劃具有相同的“DNA”。同樣地，在A(yíng)SIC設計中，計算機輔助工程（CAE）工具使用的測試臺和分析儀將應用于基于儀器的測試系統。最后，開(kāi)發(fā)團隊將以同樣的方式來(lái)生產(chǎn)和檢查結果。 這樣將使這些團隊更快更高效地做出決策和調整，節省了時(shí)間成本和預算。這種方法不僅使得團隊在應對測試中出現的問(wèn)題時(shí)具有高度的靈活性和適應能力，并且，當由于中期項目需求變動(dòng)而產(chǎn)生更多測試用例，或在設計流程各階段中進(jìn)行故障追溯時(shí)，這一方法也是很有幫助的。 然而，尤其需要注意的是，盡管實(shí)時(shí)測試軟件使得嵌入式設計和測試的效率有了顯著(zhù)的提升，但在解決您的嵌入式設計和測試需求時(shí)，您需要考慮到的絕對不僅于此。為了確保您開(kāi)發(fā)需求的準確性和并保證您的設計可轉成真實(shí)的產(chǎn)品，，除了聘請專(zhuān)家以外，您還應該制定并遵循風(fēng)格指南和精細的流程。 有些公司已經(jīng)開(kāi)始以全新的視角看待嵌入式開(kāi)發(fā)程序，把測試組件作為開(kāi)發(fā)過(guò)程中一個(gè)通用DNA。這樣的公司無(wú)疑將更具有競爭力。設計完成后進(jìn)行的測試任務(wù)將會(huì )成為產(chǎn)品設計過(guò)程中不可缺少的一環(huán)。 盡管他們本身的目的不同，但隨后的測試組件將會(huì )共享一個(gè)通用的結構。他們在某些時(shí)候會(huì )是之前步驟的克隆，在另一些情況下則是其他步驟的演變。這一關(guān)系將會(huì )擴展目前項目的通用需求到測試組件和過(guò)程的實(shí)際復用。這將大大節省成本、時(shí)間和人力，同時(shí)終端用戶(hù)可以從最新的軟件設備中獲得更佳的品質(zhì)。 NI公司供稿 |
