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近日，基于美國國家儀器 (National Instruments，以下簡(jiǎn)稱(chēng)“NI”) 的PXI源測量單元 (SMU)，專(zhuān)注利用人工智能驅動(dòng)半導體測試測量的北京博達微科技有限公司 (簡(jiǎn)稱(chēng)“博達微”) 宣布推出最新基于機器學(xué)習的半導體參數化測試產(chǎn)品FS-Pro，真正將IV測試、CV測試、低頻噪聲 (1/f noise) 測試等常用低頻特性測量集成于一體，實(shí)現在單臺儀器內完成所有測試的需求，并將測試速度提升10倍，在低頻噪聲測試中將原本需要幾十秒的測試時(shí)間縮短至5秒以?xún)取? 現如今，由于IoT發(fā)展迅猛，芯片量呈幾何倍數增長(cháng)，摩爾定律已逐漸不再適用，正如新近發(fā)布的《NI Trend Watch 2018》介紹，盡管摩爾定律的適用性再次受到威脅，但以機器學(xué)習、自動(dòng)駕駛為首的市場(chǎng)需求將持續擴展處理能力和I/O帶寬，為推動(dòng)架構創(chuàng )新提供新的機遇。因此，為打破傳統儀器固有的局限而生，更加面向未來(lái)的智能測試方案也成為半導體測試產(chǎn)業(yè)精進(jìn)的當務(wù)之急，而NI正是通過(guò)自身模塊化硬件的靈活性，持續助力產(chǎn)業(yè)進(jìn)階。NI亞太區副總裁Chandran Nair表示：“我們對于博達微科技利用 NI 最新 SMU 開(kāi)發(fā)出的智能參數測試方案 FS-Pro 印象深刻，透過(guò)博達微科技與 NI 硬件所達到優(yōu)異的精確性與測試速度相信非常適合應用于參數研究與量產(chǎn)測試上�！� 集成高精度+高速+高通道數的NI SMU，助力AI算法企業(yè)成為半導體測試新勢力 事實(shí)上，這已經(jīng)不是NI和博達微的第一次合作，2017年初博達微就發(fā)布了基于機器學(xué)習的第一代半導體參數化測試產(chǎn)品FS系列，基于NI模塊化的硬件，在測試精度和靈敏度上做了兩個(gè)數量級的提升。博達微CEO李嚴峰在NIDays 2017現場(chǎng)也直言，“從一個(gè)一年多前和測試‘絕緣’的軟件和算法公司，到當前產(chǎn)出的市場(chǎng)反響度很不錯的參數化測試設備，其中很多都源于NI模塊化硬件平臺的靈活性，方便我們快速部署算法，快速部署專(zhuān)家經(jīng)驗到測試系統中�！� 博達微在半導體參數測試中用到的NI硬件平臺正是其SMU。 以高達10 fA的電流靈敏度執行高精度測量，在高測試速度下兼具的低噪聲測量性能，以及不斷突破的通道數，都是NI SMU在自動(dòng)化測試和實(shí)驗室特性分析領(lǐng)域得到廣泛應用的原因。此外，NI SMU小巧的組成結構和模塊化特性使其成為并行IV測試系統重要儀器，模塊化PXI平臺更能夠幫助客戶(hù)通過(guò)PXI背板觸發(fā)SMU，以同步與其他儀器的測量，包括高速數字I/O儀器、射頻分析儀、發(fā)生器、高速數字化儀。 
圖1. NI 推出全新24通道高密度、高精度SMU——PXIe-4163 基于NI模塊化硬件讓AI應用全面化，加速半導體參數測試是其一 使用機器代替人類(lèi)實(shí)現認知、分析、決策等功能的AI，正在通過(guò)計算力、算法、數據量與應用場(chǎng)景等主要驅動(dòng)動(dòng)力加速爆發(fā)，而AI產(chǎn)業(yè)的贏(yíng)家必將是那些能夠快速解決實(shí)體經(jīng)濟問(wèn)題、提升行業(yè)效率，甚至是顛覆傳統商業(yè)模式的公司。 基于以靈活著(zhù)稱(chēng)的NI模塊化硬件，博達微算法團隊將自身十年來(lái)利用算法處理集成電路工藝浮動(dòng)仿真難題積累的“行為預測”、“噪聲去除”等一系列技術(shù)算法原型，迅速“復制”到半導體測試領(lǐng)域，使測量突破原有物理邊界成為可能，其參數化儀器一經(jīng)推出就迅速獲得市場(chǎng)認可。而利用人工智能（AI）驅動(dòng)測試的商業(yè)價(jià)值就是更快，據悉博達微已經(jīng)可以達到最多至10倍的效率提升；更穩定，通過(guò)行為預知減少誤操作以及不需要的信號；更智能，通過(guò)機器學(xué)習的智能部署讓測試儀器具備越測越快的性能提升�！癋S-Pro是業(yè)界首次把IV，CV和噪聲測試集成到單臺設備中，無(wú)需換線(xiàn)客戶(hù)即可完成幾乎全部低頻參數化表征，并將測試速度提升10倍。同時(shí)，基于NI提供的模塊化架構，用戶(hù)可以靈活擴展，從四通道到近百個(gè)通道，” 李嚴峰強調道。
圖2. 基于NI SMU，博達微推出業(yè)界首個(gè)學(xué)習算法驅動(dòng)的高精度半導體參數一體化測試系統FS-Pro 從持續推出更高通道數的SMU，在兼顧半導體測試性能的同時(shí)持續幫助客戶(hù)降低測試成本和時(shí)間就可以看出NI在半導體測試領(lǐng)域的長(cháng)線(xiàn)投入。Chandran Nair強調：“NI未來(lái)在技術(shù)與市場(chǎng)方面將會(huì )一如既往的大力支持博達微，持續為半導體領(lǐng)域的客戶(hù)提供更快速、更穩定、更智能的參數化測試方案�！� |
