新思科技數字與定制設計平臺通過(guò)TSMC 5nm EUV工藝技術(shù)認證

發(fā)布時(shí)間:2018-10-23 18:34    發(fā)布者:eechina
關(guān)鍵詞: 5nm , Compiler , PrimeTime
新思科技(Synopsys)宣布其數字和定制設計平臺通過(guò)了TSMC最先進(jìn)的5nm EUV工藝技術(shù)認證。該認證是多年廣泛合作的結果,旨在提供更優(yōu)化的設計解決方案,加快下一代設計的發(fā)展進(jìn)程。

Design Compiler Graphical綜合工具經(jīng)過(guò)了嚴格的5nm啟用驗證,并證明了與IC Compiler II布局布線(xiàn)工具在時(shí)序、面積、功耗和布線(xiàn)擁塞方面的相關(guān)一致性。Design Compiler Graphical 5nm創(chuàng )新技術(shù)可以實(shí)現最佳性能、最低功耗和最優(yōu)面積,這些新技術(shù)包括過(guò)孔支柱優(yōu)化、多位庫和引腳接入優(yōu)化。

IC Compiler II的增強功能是滿(mǎn)足設計密度要求的關(guān)鍵。在優(yōu)化過(guò)程中可內在地處理復雜的、多變量以及二維的單元布局,同時(shí)最大限度提高下游可布線(xiàn)性以及整體的設計收斂。

新思科技PrimeTime時(shí)序分析和signoff解決方案中的POCV分析已得到增強,能夠準確地捕獲由于工藝縮放和通常用于實(shí)現能源效率而采用的低電壓操作導致的非線(xiàn)性變化。此外,PrimeTime物理感知ECO已擴展到能夠支持更復雜的版圖規則,以改善擁塞、布局和引腳接入感知。

TSMC設計基礎設施市場(chǎng)部資深總監Suk Lee表示,“5nm EUV技術(shù)是TSMC的核心里程碑,在提供業(yè)界最佳的工藝技術(shù)方面繼續擴大了我們在更廣泛行業(yè)中的領(lǐng)先地位。我們一直保持與新思科技的密切合作,簡(jiǎn)化設計流程并縮短上市時(shí)間,以幫助我們的共同用戶(hù)在這一新的工藝節點(diǎn)上使用新思科技設計平臺。此次合作最大程度地使該工藝在高性能計算和超低功耗移動(dòng)應用上得以發(fā)揮優(yōu)勢。我們期待為下一代工藝節點(diǎn)繼續合作!

新思科技芯片設計事業(yè)部營(yíng)銷(xiāo)與商務(wù)開(kāi)發(fā)副總裁Michael Jackson表示,“我們始終保持與TSMC廣泛合作,幫助我們的共同用戶(hù)在新思科技設計平臺上充分利用TSMC 5nm工藝技術(shù)的優(yōu)勢,從而加快世界領(lǐng)先的高密度芯片從設計到生產(chǎn)的過(guò)程,實(shí)現最低功耗、最佳性能和最優(yōu)面積!

新思科技設計平臺相關(guān)技術(shù)文件、庫和寄生參數數據可以從TSMC獲得,并用于5nm工藝技術(shù)。通過(guò)TSMC 5nm FinFET工藝認證的新思科技設計平臺的關(guān)鍵工具和功能包括:
  • IC Compiler II布局和布線(xiàn):全自動(dòng)、全著(zhù)色布線(xiàn)和提取支持,新一代布局及布局合法化技術(shù)能夠進(jìn)一步減少單元占用空間,以及面向高設計利用率的先進(jìn)布局合法化技術(shù)和引腳接入建模。
  • PrimeTime時(shí)序signoff:針對低電壓和增強型ECO技術(shù)的先進(jìn)片上變異建模,支持新的物理設計規則。
  • PrimeTime PX功耗分析:先進(jìn)的功耗建模,可準確分析超高密度標準單元設計的漏電影響。
  • StarRC提取signoff:先進(jìn)的建模以處理5nm器件的復雜性,以及一套通用技術(shù)文件用于保證從邏輯綜合到布局布線(xiàn)到signoff的寄生參數提取一致性。
  • IC Validator物理signoff:原生開(kāi)發(fā)的合格DRC、LVS和金屬填充運行集,與TSMC設計規則同時(shí)發(fā)布。
  • HSPICE、CustomSim和FineSim仿真解決方案:支持Monte Carlo的FinFET器件建模,以及精確的電路仿真結果,用于模擬、邏輯、高頻和SRAM設計。
  • CustomSim可靠性分析:針對5nm EM規則的精確動(dòng)態(tài)晶體管級IR/EM分析。
  • Custom Compiler定制設計:支持全新5nm設計規則、著(zhù)色流程、多晶硅通道區域以及新的MEOL連接要求。
  • NanoTime定制設計時(shí)序分析:針對5nm器件的運行時(shí)間和內存優(yōu)化,FinFET堆的POCV分析,以及面向定制邏輯、宏單元和嵌入式SRAM的增強型信號完整性分析。
  • ESP-CV定制設計功能驗證:面向SRAM、宏單元和庫單元設計的晶體管級符號等價(jià)性檢查。
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