全新參考架構可快速、準確且經(jīng)濟高效地對封裝天線(xiàn)(AiP)器件進(jìn)行射頻OTA驗證 美國國家儀器(National Instruments,簡(jiǎn)稱(chēng)NI)今日發(fā)布了硬件加速的5G毫米波OTA驗證測試參考架構,可對5G 毫米波波束成形AiP器件進(jìn)行全面的特性分析和驗證。 與傳統的點(diǎn)對點(diǎn)軟件控制測試系統相比,NI的毫米波OTA驗證測試參考架構可在24 GHz到44 GHz的5G毫米波頻段內快速掃描OTA空間,幫助用戶(hù)顯著(zhù)縮短AiP器件的OTA射頻驗證測試時(shí)間。這一全新的參考架構使得正在研究最新5G AiP器件的特性分析和驗證工程師能夠利用更寬、更復雜的5G新空口信號研究其器件的波束成形性能,同時(shí)縮短開(kāi)發(fā)周期。NI的快速OTA測試方法可幫助工程師使用更密集的空間網(wǎng)格并獲得更精細的3D空間分辨率,同時(shí)維持較短的測試時(shí)間。此外,借助NI的毫米波OTA驗證測試軟件,驗證工程師可以在生成、可視化、存儲或發(fā)布詳細的參數結果時(shí)快速配置這些空間掃描,以分析其器件的天線(xiàn)方向圖特性。 “5G毫米波半導體產(chǎn)業(yè)發(fā)展迅速,測試系統需要為新的5G波束形成設備做好準備,” Anokiwave首席戰略官Alastair Upton說(shuō)道, “工程師將需要快速、準確且價(jià)格合理的工具來(lái)測量和確保器件的波束形成性能,以便下一代毫米波半導體能夠在全球范圍內充分發(fā)揮其潛力! NI的毫米波OTA驗證測試參考架構由以下部分構成: • NI毫米波VST,用于生成和測量寬帶RF信號 • PXI儀器,用于實(shí)現可重復和精確的運動(dòng)控制 • 隔離微波暗室,可在安靜的環(huán)境中進(jìn)行真正的遠場(chǎng)輻射測試 • 毫米波OTA驗證測試軟件,實(shí)現交互使用和自動(dòng)化 NI一直以來(lái)致力于不斷擴大5G毫米波器件的測試范圍,同時(shí)幫助用戶(hù)降低測試成本和縮短上市時(shí)間,此次發(fā)布的毫米波OTA驗證測試參考架構正是這一努力的最新成果。這一解決方案完善了NI模塊化儀器產(chǎn)品系列和測量軟件,可對最新的Sub-6 GHz至毫米波的最新5G RFIC器件進(jìn)行特性分析和驗證。 了解有關(guān)NI的毫米波OTA驗證測試參考架構的更多信息 。 |