Hynix宣布成功開(kāi)發(fā)出20nm制程64Gbit密度MLC NAND閃存芯片

發(fā)布時(shí)間:2011-6-16 23:04    發(fā)布者:Liming
關(guān)鍵詞: 20nm制程 , 64Gbit密度 , Hynix , NAND閃存芯片
Hynix半導體公司在近日舉辦的2011VLSI研討上宣布成功研發(fā)出了20nm制程64Gbit 多位元型(MLC)NAND閃存芯片,Hynix稱(chēng)這款產(chǎn)品是業(yè)內首款基于20nm制程的大容量MLC NAND閃存芯片。



據Hynix透露,成功實(shí)現大容量MLC NAND芯片20nm制程化的關(guān)鍵在于air-gap技術(shù)的應用,這種技術(shù)與邏輯芯片互連層用low-k電介質(zhì)上應用的air-gap技術(shù)非常類(lèi)似,可以減小字線(xiàn)間(簡(jiǎn)單說(shuō)就是NAND各控制柵極的連線(xiàn))的相互干擾。通過(guò)采用尺寸較大的air gap結構,Hynix成功將閃存芯片中的信號干擾降低到了較小的水平。

據Hynix介紹,airgap減小線(xiàn)路間干擾的效果還與airgap的形狀和所處的位置(在芯片中的高度)有很大的關(guān)聯(lián)。因此,Hynix選用了方形或橢圓形狀的airgap,并且模擬了分別采用這兩種不同形狀的airgap在處于不同高度位置(指airgap結構下部到浮柵下端的距離在0-200埃之間變化)時(shí)的降噪作用變化,最后,他們發(fā)現采用方形airgap,并且與浮柵下端的高度差為0埃時(shí)的降噪效果最好。

另外,Hynix還透露其制作這種20nm制程64Gbit 多位元型(MLC)NAND閃存芯片時(shí),字線(xiàn)及位線(xiàn)(簡(jiǎn)單說(shuō)就是連接NAND晶體管漏極的金屬線(xiàn))采用的光刻技術(shù)是193nm波長(cháng)ArF光源液浸式光刻系統+自對準式雙重成像技術(shù)(原文為spacer patterning technology,其實(shí)就是人們常說(shuō)的SADP技術(shù)的另一種叫法而已)。
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