芯片功耗測試之靜態(tài)功耗是什么？如何測試芯片靜態(tài)功耗？

namisoft

      什么是靜態(tài)功耗？　　
      靜態(tài)功耗也叫靜態(tài)電流，是指芯片在靜止狀態(tài)下的電流或者是指芯片在不受外界因素影響下自身所消耗的電流。靜態(tài)功耗對于芯片來(lái)說(shuō)是衡量一款芯片的功耗與效率非常重要的指標。
      傳統芯片靜態(tài)功耗測試的局限
　　傳統手動(dòng)測試靜態(tài)功耗只需在芯片的輸入端串上一臺萬(wàn)用表，然后對芯片各個(gè)端口添加合適的電壓即可測量出芯片的靜態(tài)電流，整個(gè)流程十分簡(jiǎn)單，但是芯片的制作工藝極為復雜多樣，同時(shí)芯片規格也千變萬(wàn)化，因此手動(dòng)測試在面對多批次、多規格的芯片測試時(shí)難免顧此失彼。很難保證測試的高效性和數據的準確性。所以芯片測試系統的使用就可以很明顯的避免這個(gè)問(wèn)題。芯片的制作工藝極為復雜多樣，同時(shí)芯片規格也千變萬(wàn)化，因此手動(dòng)測試在面對多批次、多規格的芯片測試時(shí)難免顧此失彼。

      ATECLOUD系統如何測試芯片靜態(tài)功耗？
　　ATECLOIUD-IC芯片測試系統，測試靜態(tài)功耗只需先手動(dòng)連接線(xiàn)路，然后在測試系統中根據測試步驟搭建對應的工步，然后運行軟件可以完成整個(gè)測試，搭建過(guò)程只需2分鐘，而測試過(guò)程只需幾秒即可得出測試出結果，非常適用于大批量芯片測試，一次接線(xiàn)后就無(wú)需再次手動(dòng)變更參數、更換線(xiàn)路，系統可自動(dòng)完成參數配置、數據測量、數據讀取以及數據儲存，同時(shí)可以將數據結果一鍵導出數據報告，極大的提升測試效率，避免出現數據錯漏，提高測試準確性。
　　雖然靜態(tài)功耗手動(dòng)測試也十分迅速，但是相對芯片自動(dòng)測試系統來(lái)說(shuō)，系統的優(yōu)勢也相當明顯，除了測試效率性、數據準確性，芯片測試系統還有大數據分析功能，系統中的數據洞察模塊，可以對采集到的數據進(jìn)行整體分析和整理，可以將所有數據以折線(xiàn)圖或柱狀圖等形勢集中展示，為企業(yè)的發(fā)展和決策方向提供數據支持。更多詳情可了解：https://www.namisoft.com/Softwarecenterdetail/1220.html