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4200-SCS半導體特征化系統的Keithley 互動(dòng)測試環(huán)境（KITE）軟件，包含了兩種測試模塊：互動(dòng)測試模塊（ITM，Interactive TestModule）和用戶(hù)測試模塊（UTM，User Test Modul）。用戶(hù)可以根據他們的偏愛(ài)和所要測試的類(lèi)型來(lái)選擇相應類(lèi)型的模塊。ITM提供了一種建立I-V測試的非常方便的方法，而所有要做的只是簡(jiǎn)單的鼠標移動(dòng)和點(diǎn)擊。ITM還允許進(jìn)行實(shí)時(shí)數據繪圖（即邊測試邊繪圖）。另一方面，使用了UTM，用戶(hù)可以用C語(yǔ)言和所提供的儀表庫來(lái)編寫(xiě)測試程序。UTM被設計成在對4200-SCS和其他外部?jì)x器進(jìn)行控制時(shí)可以提供最大的靈活性，因而用戶(hù)幾乎可以創(chuàng )建任何所需的測試。 下載： 
4200_Plotting_TN-CN.pdf
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